PCB技術 - ミリ波周波数でのPCB材料

The 誘電体 定数 (( dk )) or 相対 誘電体 定数 of the 材料 of the <エー href="エー_href_0" tエーrgET="_blエーnk">PCB回路基板 is ない エー 定数 定数 it ルックス ライク エー 定数 から ITS 名称. For 例, the DK of エー 材料 意志 変化する with 頻度. 同様に, if 異なる DK テスト 方法 エーre 使用 on the 同じ 材料, 異なる DK 値 五月 アルso ビー 測定, イーブン if これら テスト 方法 エーre 正確. AS 回路 boエーrd 材料 エーre ますます 使用 イン ミリメータ 波 周波数, such AS 5 G and 上級 運転 援助 システム, it is 非常に 重要 to 理解する the 変動 of DK with 頻度 and どちら DK テスト 方法 is "適切な".

Although 組織 such AS IEEE and IPC 有 専用 委員会 to 議論する この 問題, there is 現在 なし 標準 工業 テスト 方法 to 処置 the DK of 回路基板 材料 アット ミリメータ 波 周波数. この is ない だって of the 不足 of 測定 方法. イン 事実, a リファレンス 紙 出版 そば シェニール.1 et al. 記述 その他 than 80 方法 for テスト DK. しかし, なし 一つ 方法 is 理想. それぞれ 方法 hAS ITS 利点 and 欠点, 特に イン the 頻度 範囲 of 30 to 300 GHz.

回路テスト対原料試験

回路基板材料のdkまたはdf（損失正接またはtan焼）を決定するために使用される試験方法の2つの主要なタイプがある。原料ベースの試験は、高品質で信頼性の高い試験器具や機器に依存し、DKとDFの値は、原料を直接テストすることによって得ることができます。回路ベースの試験は、通常、共通回路を使用し、共振器の中心周波数または周波数応答を測定するような回路性能から材料パラメータを抽出する。原料試験方法は、通常、試験器具または試験装置に関連する不確実性を導入し、一方、回路試験方法は、テスト回路設計および処理技術から不確実性を含む。これらの2つの方法が異なるので、測定結果と正確さレベルは通常矛盾しています。

For 例, the Xバンド クランプ striplインe テスト 方法 定義 そば IPC is a 生 材料 テスト 方法, and the 結果 缶なしt ビー 一貫 with the DK 結果 of the 回路 テスト of the 同じ 材料. The クランプ 種類 ストリップライン 生 材料 テスト 方法 is to クランプ 二つ 作品 of 材料 下 テスト (（ミュート）) イン a スペシャル テスト 器具 to 構成する a ストリップライン 共振器. There 意志 ビー 空気 ビーtween the 材料 下 テスト (（ミュート）) and the 薄型 共振器 回路 イン the テスト 器具, and the 存在 of 空気 意志 減らす the 測定 DK. If the 回路 テスト is 施行 on the 同じ 回路 board 材料, the 測定 DK is 異なる から あれ of no 委託する 空気. For the 材料 of the 高周波回路基板 誰 DK 許容 is 指数±0.050 決定するd そば the 生 材料 テスト, the 回路 テスト 意志 get a 許容 of アバウト 指数±0.075.

回路基板材料は異方性であり、通常、3つの材料軸上に異なるDK値を有する。DK値は通常X軸とY軸との間に小さな差があるので、多くの高周波材料では、DK異方性は、通常、z軸とx－y平面との間のDK比較を指す。材料の異方性のために、同じ被試験材料（（ミュート））のために、z軸上の測定されたDKは、XY平面上のDKとは異なるが、試験方法および測定されたDK値は共に両方とも正しい。

回路試験に使用される回路の種類は、試験中のDKの値にも影響を及ぼす。一般に，共振回路と透過／反射構造の2種類のテスト回路を用いた。共振構造は通常狭帯域の結果をもたらすが、伝送／反射試験は通常広帯域の結果をもたらす。共振構造を用いる方法は一般により正確である。