Tecnología PCBA - Sobre los principios del probador de función de parches SMT

Aunque surgen nuevas tecnologías de detección como aoi, pruebas de rayos x, pruebas en línea de propiedades eléctricas basadas en sondas voladoras o camas de aguja, etc., pueden detectar eficazmente diversos defectos y fallas que aparecen durante el montaje de smt, pero no pueden ser evaluados. Si el sistema compuesto por toda la placa de circuito puede funcionar correctamente. Las pruebas funcionales pueden probar si todo el sistema puede alcanzar los objetivos de diseño. Utiliza la unidad medida en la placa de circuito como un cuerpo funcional, le proporciona una señal de entrada y detecta la señal de salida de acuerdo con los requisitos de diseño del cuerpo funcional. Esta prueba es para garantizar que la placa de circuito pueda funcionar correctamente de acuerdo con los requisitos de diseño. Por lo tanto, con el desarrollo de diversas tecnologías avanzadas de detección, las pruebas funcionales siguen siendo el principal método para detectar y garantizar la calidad funcional final del producto. Los probadores funcionales suelen incluir tres unidades: agregar estímulos, recopilar respuestas y evaluar las respuestas de los componentes de prueba basados es es en componentes estándar. La mayoría de las pruebas funcionales tienen programas de diagnóstico que permiten identificar y determinar las fallas. El precio de los probadores funcionales es relativamente caro. La prueba funcional más simple es conectar la placa de circuito de montaje de superficie al circuito correspondiente del equipo y observar el Estado de funcionamiento del equipo después de la electricidad. Este método es simple y tiene poca inversión, pero no puede diagnosticar automáticamente las fallas.

1. principios de las pruebas funcionales

Las pruebas funcionales generalmente se prueban a través de la interfaz externa de la placa probada. El principio de la prueba es que el propio equipo de prueba proporciona varias fuentes de señal de excitación, estimula la placa medida a través de la interfaz, y el equipo de prueba recibe la señal de respuesta de la placa medida y responde. La señal se compara con los resultados esperados y finalmente se juzga la función. Uut es el objeto medido, que puede ser una sola placa o una placa base; La entrada es la señal de entrada de la placa medida; Salida es la señal de salida de la placa medida; El estimulador es una parte analógica que proporciona energía, números de ranura, relojes, señales de control y Estados para señales uut, etc. el controlador es la parte de control, que puede ser un puerto serie, un bus de expansión, etc., para controlar la uut; El detector es un componente de detección utilizado para probar la señal de salida de la ut; El JIG es un JIG flexible para sujetar el uut.

Tratamiento de parches SMT 010

2. características de las pruebas funcionales

Las pruebas funcionales se utilizan principalmente para la producción a gran escala. El objetivo es probar las funciones de hardware desde la interfaz externa de la placa única, en lugar de probar el diseño de la placa única, todas las ramas del software y el correcto o incorrecto, bueno o malo de la placa única. Rendimiento general. La prueba funcional se basa en el diseño exitoso de la placa predeterminada, pero durante el proceso de producción, debido a diversas razones, algunas placas se dañan, lo que hace que no funcionen correctamente, y la prueba funcional puede eliminar estas placas rotas. Los probadores funcionales generalmente solo necesitan hacer conectores o pinzas correspondientes a los objetos de prueba. Mientras la interfaz externa se mantenga sin cambios, el nuevo tablero de prueba puede usar el probador original, solo necesita actualizar el software, por lo que el probador funcional tiene una fuerte capacidad para adaptarse a los cambios del tablero de prueba. El probador funcional generalmente simula el entorno de toda la máquina, después de permitir que la placa única funcione normalmente, prueba sus señales de entrada y salida, detecta completamente la calidad de su hardware y tiene una alta fiabilidad de prueba. Sin embargo, debido a que la prueba se realiza en la interfaz, la ubicación de la falla es inútil y solo se puede juzgar la calidad de algunas funciones de la placa. Si quieres localizar un chip en particular, necesitas más análisis.

Sobre el probador de función de parches SMT

3. la diferencia entre las pruebas funcionales y las pruebas en línea

El sistema de prueba generalmente incluye un sistema de prueba en línea y un sistema de prueba funcional. Las pruebas en línea suelen ser para detectar fallas en los componentes y conexiones de la chapa probada, mientras que las pruebas funcionales tienen como objetivo probar si la máquina o la chapa funcionan correctamente y si los indicadores funcionales cumplen con los requisitos. El sistema de prueba en línea y el sistema de prueba funcional tienen ventajas complementarias y se complementan entre sí para completar conjuntamente las tareas de prueba del producto. En el sistema de producción, la placa terminada debe someterse a pruebas en línea. La placa terminada envejece a alta temperatura y luego se coloca en el almacén después de la prueba funcional. Antes de la entrega, cada tablero debe pasar por la prueba ambiental de toda la máquina. En general, es necesario determinar si se utilizan pruebas en línea o funcionales en función de la complejidad, producción, producción y madurez del producto. Para algunas tablas con funciones muy simples, generalmente puede considerar usar solo pruebas funcionales. Si el producto es más complejo, de alto rendimiento, de alto rendimiento y maduro, se necesitan equipos de prueba en línea y equipos de prueba funcional. Independientemente de si ha sido probado en línea y funcional, el producto debe ser depurado por toda la máquina antes de la entrega para garantizar el rendimiento de toda la máquina.