Präzisions-Leiterplattenherstellung, Hochfrequenz-Leiterplatten, mehrschichtige Leiterplatten und Leiterplattenbestückung.
Leiterplattentechnisch

Leiterplattentechnisch - Analyse von Leiterplattenfehlern

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Leiterplattentechnisch - Analyse von Leiterplattenfehlern

Analyse von Leiterplattenfehlern

2021-11-03
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Author:Downs

Als Träger verschiedener Komponenten und der Hub der Schaltungssignalenübertragung, Leiterplatte ist zum wichtigsten und wichtigsten Bestandteil elektronischer Informationsprodukte geworden. Sein Qualitäts- und Zuverlässigkeitsniveau bestimmen die Qualität und Zuverlässigkeit der gesamten Ausrüstung. Allerdings, aus Kosten- und technischen Gründen, eine große Anzahl von Fehlerproblemen im Prozess der Leiterplattenproduktion und -anwendung aufgetreten ist.

Dann müssen einige häufig verwendete Fehleranalysetechniken verwendet werden. Zwischen den strukturellen Eigenschaften der Leiterplatte und den Hauptausfallmodi konzentriert sich dieser Artikel auf neun Techniken für PCB-Fehleranalyse, einschließlich: visuelle Inspektion, Röntgenfluoroskopie, metallographische Schnittanalyse, thermische Analyse, Photoelektronenspektroskopie, Anzeige-Mikroinfrarot-Analyse, Rasterelektronenmikroskopanalyse und Röntgen-Energiespektrumanalyse, etc. Die metallographische Schnittanalyse ist ein zerstörerisches Analyseverfahren. Nach Anwendung dieser beiden Techniken wird die Probe zerstört und kann nicht zurückgewonnen werden; Darüber hinaus kann aufgrund der Anforderungen der Probenvorbereitung, Rasterelektronenmikroskopie und Röntgenenergiespektrumanalyse manchmal erforderlich sein. Darüber hinaus kann es während des Analyseprozesses aufgrund der Notwendigkeit der Überprüfung des Fehlerortes und der Fehlergründe erforderlich sein, Prüftechniken wie thermische Beanspruchung, elektrische Leistung, Lötbarkeitsprüfung und Größenmessung usw. zu verwenden, die hier nicht speziell eingeführt werden.

1. Aussehen Inspektion Aussehen Inspektion ist, das Aussehen der Leiterplatte visuell oder mit einigen einfachen Instrumenten zu überprüfen, wie ein Stereomikroskop, ein metallographisches Mikroskop oder sogar eine Lupe, um den fehlgeschlagenen Standort und die damit verbundenen physischen Beweise zu finden. Die Hauptfunktion besteht darin, den Fehler zu lokalisieren und ein vorläufiges Urteil über die Leiterplatte zu treffen. Fehlermodus. Die visuelle Inspektion überprüft hauptsächlich die PCB-Verschmutzung, Korrosion, die Position des Brettplatzes, die Stromverdrahtung und die Regelmäßigkeit des Ausfalls, wenn es sich um Chargen- oder Einzelstücke handelt, ist es immer in einem bestimmten Bereich konzentriert, etc. Darüber hinaus, viele Leiterplattenfehler erst nach Montage in PCBA. Ob der Fehler durch den Montageprozess und die verwendeten Materialien verursacht wird, erfordert auch eine sorgfältige Überprüfung der Eigenschaften des Fehlerbereichs.

Leiterplatte

2. Röntgenfluoroskopie-Inspektion Für bestimmte Teile, die nicht visuell überprüft werden können, sowie die internen und anderen internen Defekte der Leiterplatte durch Löcher, Röntgenfluoroskopie-System muss für die Inspektion verwendet werden. Röntgenfluoroskopie-Systeme verwenden unterschiedliche Materialstärken oder unterschiedliche Materialdichten basierend auf unterschiedlichen Prinzipien der Feuchtigkeitsaufnahme oder Transmission von Röntgenstrahlen für die Bildgebung. Diese Technologie wird mehr verwendet, um die internen Defekte von PCBA Lötstellen, die inneren Defekte der Durchgangslöcher, und Positionierung defekter Lötstellen von BGA- oder CSP-Geräten in hochdichten Verpackungen. Die Auflösung der aktuellen industriellen Röntgenfluoroskopie-Ausrüstung kann weniger als ein Mikron erreichen, und es ändert sich von zweidimensionaler zu dreidimensionaler Bildgebungsausrüstung. There are even five-dimensional (5D) equipment used for package inspection, Aber dieses 5D X Das optische Perspektivsystem ist sehr teuer und hat selten praktische Anwendungen in der Industrie.

Die Schnittanalyse ist der Prozess, die Querschnittsstruktur der Leiterplatte durch eine Reihe von Methoden und Schritten wie Probenahme, Einlegen, Schneiden, Polieren, Korrosion und Beobachtung zu erhalten. Durch die Schnittanalyse können wir umfangreiche Informationen über die Mikrostruktur erhalten, die die Qualität der Leiterplatte widerspiegelt (durch Löcher, Beschichtung usw.), die eine gute Grundlage für die nächste Qualitätsverbesserung bietet. Diese Methode ist jedoch zerstörerisch. Einmal geschnitten, wird die Probe unweigerlich zerstört. Gleichzeitig erfordert diese Methode eine hohe Probenvorbereitung und dauert eine lange Zeit, um Proben vorzubereiten, was gut ausgebildete Techniker erfordert.