1 Circuit online testing technology
1) Online testing principle: The basic principle of online testing is that the tester provides input excitation for the chip under test on the 印刷電路板, 同時在電腦的控制下自動採集和記錄被測晶片的輸出響應和狀態值. 將所有記錄的狀態值與標準狀態真值表進行比較,以判斷測試對象的故障狀態.
2.) Post-drive test technology: Post-drive test technology is mainly used for online testing of 數位的 circuits. Its essence is to sink or pull out a large transient current at the input stage of the device under test (the output stage of the front-stage driver chip), 迫使其潜力根據需要變得更高或更低, 以便對線上測試的設備施加測試勵磁. 意圖. 確保對電路板上的設備進行功能測試, 必須強制驅動設備的邏輯電平, 每個引脚驅動器必須能够吸收或提供足够的電流. A.ccording to the post-drive safety standard recommended by the international protection standard document (00-53./1), 測試儀的驅動電流設計為240mA, 測試時間在200ms以內. 通過實驗, 被測設備基本上可以很好地隔離, 同時也保證了被測裝置的安全性.
2. Composition of the tester
1) Hardware module: The tester consists of a portable computer, 單片機測試平臺及測試分析處理軟件. 其中, 單片機測試平臺在電腦的控制下完成對被測對象數據的採集. Some functions and descriptions are as follows:
The micro控制ler circuit mainly completes data acquisition, control, 命令處理, 與電腦進行資料交換. 在測試儀的設計中, 採用MCS-51系列8031單片機, 2764用作擴展ROM, 6264用作擴展RAM. 解碼晶片電路為74LS138. 用於與電腦的串列通信, MCl488和MC1489用於RS-232C電平和TTL電平之間的轉換. 單片機系統時鐘頻率選擇6MHz晶體振盪器, 通信串列傳輸速率選擇2400, 單片機採用工作模式3進行串列通信. 計时器T1設定為模式2. 設定SMOD=1, 時間常數F3H. 匯流排驅動器擴展了單片機匯流排以提高其驅動能力, 並選擇74LS244和74LS245線路驅動器.
驅動控制電路主要完成測試過程中TTL和CMOS測試閾值的控制, and selects 4-fold SPST (single pole single throw) DG211 analog switch. 開關控制由解碼電路和74LS373鎖存器完成. To ensure that the DG211 is in normally open (OFF) state when powered on, a pull-up resistor (10kΩ) is added to the control line. 測試驅動電路將測試輸入信號應用於被測晶片, 並使用微型繼電器控制輸入信號. 測試訊號由數據緩衝器74ACT244生成. 為了確保輸入電流滿足設計要求, 使用4路並聯連接. 防止損壞設備, 新增了一個LC網絡,用於大電流緩衝, 並設計了二極體保護電路. 資料獲取電路讀取被測晶片的輸出響應, 並使用雙電壓比較器LM393來控制輸出信號. 它具有低功耗, 高比較精度, 與TTL邏輯相容. LM393輸出與74LS373數據鎖存器相連, 由微控制器控制以讀取比較數據.
電壓驅動D/在虛擬儀器測試過程中,一個電路完成階躍電壓的輸出. 採用8比特並行D/A轉換器MC1408. The chip power supply voltage is +5V and -12V. 參攷電壓由恒定電流電壓調節器TL431提供. 輸出選擇雙極輸出, 它由兩級放大器LM348完成. 電流轉換採集A/D電路實現測試點電流數據的採集. 在電路中, 負載電阻和差分放大器電路LM343用於跟踪測試點的電壓, 將測試點的電流值轉換為A/D轉換電路可以處理. 選擇AD7574八位連續比較型高速A/D轉換電路. 轉換時間為15mS, and it is powered by a single +5V supply. 參攷電壓選擇VREF=-8V. 輸入電壓範圍為0~++|VREF|. A/D轉換可以通過在程式控制晶片的RD端產生負脈衝來啟動.
2) Software module: The tester is controlled by the portable main control computer through the serial port, 單片機測試平臺完成勵磁控制, 資料獲取和其他工作, 所有資料分析處理和命令控制均由可擕式主電腦完成. 整套測試軟體由主控制軟件組成, 資料通信軟件, 離線測試軟體, 線上功能測試軟體, 線上狀態測試軟體, VI特性測試軟體, 節點電壓測試軟體, 電子手册, 測試開發軟件, 系統自檢軟件, 等. 主要模塊由.
3. Main functions of the tester
The tester adopts the circuit online test technology, 它可以線上或離線測試和分析各種中小規模集成電路晶片的常見故障, 並測試V/I類比和數位設備的特性. 數位晶片功能測試的基本原理是檢測和記錄輸入/晶片的輸出狀態, 並將記錄的狀態與標準狀態真值表進行比較,以判斷被測晶片的功能是否正確. Digital chip state test Each digital device on the circuit board has three state characteristics after power-on: the logic state of each pin (power, 地, 高電阻, 訊號, 等.), 引脚之間的連接關係, 輸入輸出之間的邏輯關係. 當設備發生故障時, 其狀態特徵通常會發生變化. 測試儀可以選取良好電路板上每個IC設備的狀態特徵, 將其存儲在電腦資料庫中, 然後將其與類似故障電路板進行比較, 從而準確地找到故障位置. VI特性測試分析此測試功能基於類比特性分析科技,可用於類比測試, digital, 專用設備, 可程式設計器件, 以及大規模和超大規模設備. 測試儀通過測試探針或測試夾自動選取量測點的特性曲線, 將其顯示在電腦荧幕上, 並將其存儲在電腦中. 在特殊故障診斷中, 將量測的VI曲線與預先存儲的標準曲線進行比較, 然後找出故障. 節點電壓測試,因為測試儀的測試對象不僅包括數位電路設備, 而且還有大量的類比電路器件, 為了進一步提高測試儀的應用範圍, 測試儀採用節點電壓測試技術. 通過向被測物體施加工作電壓, 電腦讀取測試節點的電壓響應值, 並建立標準測試資訊資料庫,供操作員分析和判斷故障位置. 除上述主要功能外, 其他功能測試儀也具有輔助測試功能,如電子手册, 測試開發, 和系統自檢 PCB板.