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PCB新聞 - ICT科技的邊界掃描

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ICT科技的邊界掃描

2021-10-11
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Author:Aure

ICT科技的邊界掃描



80%到90% 電路板製造商, ICT測試儀要求每個電路節點至少有一個測試點. 然而, 隨著設備集成度的新增, 功能越來越强大, 包裹越來越小了, SMT處理組件的數量新增, 多層板的使用, 以及 PCBA板 組件密度, 有必要在每個節點上放置一個探針,這變得非常困難. 為了新增測試點, 製造成本新增; 同時, 開發强大設備的測試庫變得很困難, 開發週期延長. 為此目的, the Joint Test Organization (JTAG) promulgated the IEEE1149.1測試標準.

IEEE1149.1定義了掃描設備的幾個重要特性。 首先,定義了構成測試訪問埠(TAP)的四(五)個引脚:TDI、TDO、TCK、TMS(TRST)。 測試模式選擇(TMS)用於負載控制資訊; 其次,定義了TAP控制器,支持幾種不同的測試模式,主要是外部測試(EXTEST)、內部測試(INTEST)和運行測試(RUNTEST); 最後,提出了邊界掃描語言(邊界掃描描述語言),BSDL語言描述了掃描設備的重要資訊。 它將引脚定義為輸入、輸出和雙向類型,並定義抽頭模式和指令集。


ICT科技的邊界掃描


具有邊界掃描的設備的每個引脚連接到串列位移暫存器(SSR)的一個單元,稱為掃描單元。 掃描單元連接在一起形成位移暫存器鏈,用於控制和檢測設備引線。 脚 其特定的四個引脚用於完成測試任務。

通過抽頭連接多個掃描設備的掃描鏈,以形成連續的邊界寄存器鏈。 在鏈頭添加抽頭訊號可以控制和檢測連接到鏈的設備的所有管脚。 這種虛擬接觸取代了針床夾具與設備每個引脚的物理接觸,虛擬訪問取代了實際的物理訪問,移除了佔用PCB板空間的大量測試墊,降低了PCB和夾具的製造成本。

作為一種測試策略,在為可測試性設計PCB時,可以使用專用軟體分析具有掃描功能的電路點和設備,以確定如何在不降低測試覆蓋率的情况下有效放置有限數量的測試點。 减少測試點和測試銷的最經濟的方法。

邊界掃描科技解决了無法新增測試點的困難。 更重要的是,它提供了一種簡單快速的方法來生成測試模式。 使用軟體工具,可以將BSDL檔案轉換為測試模式,例如Teradyne的Victory和GenRad的基本掃描和掃描路徑查找器。 解决編寫複雜測試庫的困難。

TAP訪問埠也可用於實現線上程式設計(系統內程式或板上程式),如CPLD、FPGA和Flash Memroy。


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