Leiterplatte Blog - Online Tester Modul Zusammensetzung für doppelseitige Leiterplatte

1. Circuit online testing technology
1) Online testing principle: The basic principle of online testing is that the tester provides input excitation for the chip under test on the Leiterplatten, und zur gleichen Zeit sammelt und zeichnet automatisch die Ausgangsantwort und den Zustandswert des zu prüfenden Chips unter der Kontrolle des Computers auf. Alle aufgezeichneten Zustandswerte werden mit der Standard State Truth Tabelle verglichen, um den Fehlerzustand des geprüften Objekts zu beurteilen.
2) Post-drive test technology: Post-drive test technology is mainly used for online testing of digital circuits. Its essence is to sink or pull out a large transient current at the input stage of the device under test (the output stage of the front-stage driver chip), Erzwingen des Potenzials, bei Bedarf höher oder niedriger zu werden, um Testanregung auf das zu testende Gerät online anzuwenden. Zweck. Zur Sicherstellung der Funktionsprüfung des Geräts auf der Platine, Es ist notwendig, die Logik der Vorrichtung zu erzwingen, die angetrieben werden soll, und jeder Pin-Treiber muss in der Lage sein, ausreichend Strom zu senken oder zu speisen. According to the post-drive safety standard recommended by the international protection standard document (00-53/1), Der Antriebsstrom des Testers ist auf 240mA ausgelegt, und die Testzeit ist innerhalb 200ms. Durch das Experiment, Das zu testende Gerät kann grundsätzlich gut isoliert werden, und die Sicherheit des zu prüfenden Gerätes ist ebenfalls gewährleistet.

2. Composition of the tester
1) Hardware module: The tester consists of a portable computer, Eine Single-Chip-Testplattform und Software zur Analyse und Verarbeitung von Tests. Unter ihnen, Die Single-Chip-Testplattform schließt die Erfassung der Messobjektdaten unter der Steuerung des Computers ab. Some functions and descriptions are as follows:
The microSteuerungler circuit mainly completes data acquisition, control, Befehlsverarbeitung, und Datenaustausch mit dem Computer. Im Design des Testers, MCS-51 Serie 8031 Single-Chip Mikrocomputer wird verwendet, 2764 wird als Erweiterungs-ROM verwendet, und 6264 wird als Erweiterung RAM verwendet. Die Decodierung Chipschaltung ist 74LS138. Für die serielle Kommunikation mit dem Computer, MCl488 und MC1489 werden verwendet, um zwischen RS-232C-Pegel und TTL-Pegel umzuwandeln. Die Single-Chip Mikrocomputer System Taktfrequenz wählt 6MHz Kristalloszillator, die Kommunikationsbaudrate wählt 2400, Der Ein-Chip-Computer nimmt Arbeitsmodus 3 an, um die serielle Kommunikation fortzusetzen. Timer T1 ist auf Modus 2 eingestellt. SMOD=1 setzen, Zeitkonstante F3H. Der Busfahrer erweitert den Single-Chip-Mikrocomputer-Bus, um seine Fahrfähigkeit zu verbessern, und wählt die Linientreiber 74LS244 und 74LS245 aus.

Der Antriebssteuerkreis vervollständigt hauptsächlich die Steuerung der TTL- und CMOS-Prüfschwellen im Prüfprozess, and selects 4-fold SPST (single pole single throw) DG211 analog switch. Die Schaltersteuerung wird durch die Decodierschaltung und die 74LS373 Verriegelung vervollständigt. To ensure that the DG211 is in normally open (OFF) state when powered on, a pull-up resistor (10kΩ) is added to the control line. Der Prüfantriebsschaltung wendet ein PrüfeingangsSignal auf den zu prüfenden Chip an, und verwendet ein Mikrorelais zur Steuerung des Eingangssignals. Das Testsignal wird durch den Datenpuffer 74ACT244 erzeugt. Um sicherzustellen, dass der Eingangsstrom den Konstruktionsanforderungen entspricht, eine 4-Wege Parallelverbindung verwendet wird. Um Schäden am Gerät zu vermeiden, Ein LC-Netzwerk für Hochstrompufferung wird hinzugefügt, und eine Diodenschutzschaltung ist entworfen. Die Datenerfassungsschaltung liest die Ausgangsantwort des zu prüfenden Chips, und verwendet den Doppelspannungs-Komparator LM393, um das Ausgangssignal zu steuern. Es hat einen niedrigen Stromverbrauch, hohe Vergleichsgenauigkeit, und ist kompatibel mit TTL-Logik. Der LM393 Ausgang wird mit dem 74LS373 Datenriegel verbunden, welche vom Mikrocontroller gesteuert wird, um die Vergleichsdaten auszulesen.

Das spannungsgetriebene D/Eine Schaltung vervollständigt die Ausgabe der Schrittspannung im VI-Prüfprozess. 8-Bit Parallel D annehmen/Ein Konverter MC1408. The chip power supply voltage is +5V and -12V. Die Referenzspannung wird durch den Konstantstrom-Spannungsregler TL431 bereitgestellt. Der Ausgang wählt bipolaren Ausgang, der durch den zweistufigen Verstärker LM348 ergänzt wird. Der aktuelle Umstellungserwerb A/D-Schaltung implementiert die Erfassung der Stromdaten des Prüfpunktes. In der Schaltung, Der Lastwiderstand und die Differenzverstärkerschaltung LM343 werden verwendet, um der Spannung des Prüfpunktes zu folgen, und der Stromwert des Prüfpunktes wird in die Spannung umgewandelt, die das A/D Umwandlungsschaltung kann handhaben. Wählen Sie AD7574 8-Bit aufeinanderfolgende Vergleichsart High-Speed A/D Umwandlungsschaltung. Die Umrechnungszeit beträgt 15μS, and it is powered by a single +5V supply. Die Referenzspannung wählt VREF=-8V. Der Eingangsspannungsbereich beträgt 0~++|VREF|. A/D-Umwandlung kann durch Erzeugung eines negativen Impulses am RD-Ende des Programmsteuerchips gestartet werden.

2) Software module: The tester is controlled by the portable main control computer through the serial port, Die Einzelchip-Testplattform vervollständigt die Anregungssteuerung, Datenerfassung und sonstige Arbeiten, und alle Datenanalyseverarbeitung und Befehlssteuerung werden durch den tragbaren Hauptcomputer abgeschlossen. Der ganze Satz der Testsoftware besteht aus Hauptsteuerungssoftware, Datenkommunikationssoftware, Offline-Testsoftware, Online Funktionstest Software, Online-Statustestsoftware, VI charakteristische Prüfsoftware, Software zur Prüfung der Knotenspannung, elektronisches Handbuch, Testentwicklungssoftware, System-Selbsttest-Software, etc. Die Hauptmodule bestehen aus.

3. Main functions of the tester
The tester adopts the circuit online test technology, Diese können verwendet werden, um die gemeinsamen Fehler verschiedener kleiner und mittlerer integrierter Schaltungschips online oder offline zu testen und zu analysieren, und testen Sie die V/I Eigenschaften von analogen und digitalen Geräten. Das Grundprinzip der Funktionsprüfung von digitalen Chips ist die Erkennung und Aufzeichnung der Eingabe/Ausgangszustand des Chips, und vergleichen Sie den aufgezeichneten Zustand mit der Standardzustandswahrheitstabelle, um zu beurteilen, ob die Funktion des getesteten Chips korrekt ist. Digital chip state test Each digital device on the circuit board has three state characteristics after power-on: the logic state of each pin (power, Boden, hohe Beständigkeit, signal, etc.), das Verbindungsverhältnis zwischen Pins, input Die logische Beziehung zwischen den Ausgängen. Wenn ein Gerät ausfällt, seine Zustandsmerkmale ändern sich im Allgemeinen. Der Tester kann die Zustandsmerkmale jedes IC-Geräts auf einer guten Leiterplatte extrahieren, in der Computerdatenbank speichern, und dann mit ähnlichen fehlerhaften Leiterplatten vergleichen, um den Fehlerort genau zu finden. Diese Testfunktion basiert auf der analogen Kennlinienanalysetechnologie und kann für die Prüfung von analogen Kenngrößen verwendet werden., digital, Sondervorrichtungen, programmierbare Geräte, und Groß- und Ultragroßgeräte. Das Prüfgerät extrahiert automatisch die Kennlinie des Messpunktes durch die Prüfsonde oder den Prüfclip, zeigt es auf dem Computerbildschirm an, und speichert es im Computer. In der speziellen Fehlerdiagnose, Vergleich der gemessenen VI-Kurve mit der vorab gespeicherten Standardkurve, und dann den Fehler finden. Knotenspannungsprüfung Da das Prüfobjekt des Prüfgeräts nicht nur digitale Schaltungseinrichtungen umfasst, aber auch eine große Anzahl von analogen Schaltungen Geräte, um den Anwendungsbereich des Testers weiter zu verbessern, Die Knotenspannungsprüftechnologie wird im Prüfgerät übernommen. Durch Anlegen der Arbeitsspannung auf das Messobjekt, Der Computer liest den Spannungsantwortwert des Prüfknotens, und erstellt eine Standard-Prüfinformationsdatenbank für den Betreiber, um den Fehlerort zu analysieren und zu beurteilen. Zusätzlich zu den oben genannten Hauptfunktionen, Andere Funktionstester verfügen auch über zusätzliche Prüffunktionen wie elektronische Handbücher, Testentwicklung, und System Selbstkontrolle auf Leiterplatte.