Elektronisches Design - Design von Leiterplattenprüfpunkten und Prüflöchern

Um Qualität zu sichern und Kosten in der SMT-Massenproduktion zu senken, Online-Tests sind unverzichtbar. Um den reibungslosen Ablauf der Prüfarbeiten zu gewährleisten, the design of the test points and test holes (electrical connection holes used for the electrical performance testing of PCB and PCB components) should be considered during PCB-Design.

(1) Entwurf der Kontaktzuverlässigkeitsprüfung. Grundsätzlich sollten die Prüfpunkte auf derselben Oberfläche liegen und gleichmäßig verteilt sein. Der Durchmesser des Pads am Testpunkt ist 09mm ~1.0mm, und es wird mit dem relevanten Prüfstift abgestimmt. Die Mitte des Testpunktes sollte auf das Gitter fallen, und es sollte nicht innerhalb von 5mm von der Kante der Platine entworfen werden, und der Mittelabstand zwischen benachbarten Testpunkten sollte nicht kleiner als 1.46mm sein.

Keine anderen Komponenten sollten zwischen den Prüfpunkten entworfen werden, und der Abstand zwischen dem Prüfpunkt und dem Bauteilpad sollte nicht kleiner als 1mm sein, um Kurzschlüsse zwischen den Komponenten oder Prüfpunkten zu verhindern, und beachten Sie, dass die Prüfpunkte nicht mit irgendeiner Isolierschicht beschichtet werden können.

Grundsätzlich, Die Prüflöcher können durch Prozesslöcher ersetzt werden, Aber die Testlöcher sollten immer noch auf der Tochterplatine entworfen werden, wenn die einzelne Platine der Stichsäge getestet wird.

(2) Entwurf des elektrischen Zuverlässigkeitstests, alle elektrischen Knoten sollten Testpunkte bereitstellen, das heißt, Testpunkte sollten in der Lage sein, alle I/0-, Leistungserdungs- und Rücksignale abzudecken, und jeder IC sollte Leistungs- und Erdungsprüfpunkte haben. Wenn das Gerät über mehrere Netzteile und Massepunkte verfügt, sollten Prüfpunkte separat hinzugefügt werden. Die Stromversorgung und Masse eines integrierten Blocks sollten innerhalb von 2,54mm platziert werden. Die IC-Steuerleitung kann nicht direkt an die Stromversorgung, Masse oder gemeinsamen Widerstand angeschlossen werden. VLSI- und ASIC-Geräte mit Begrenzungsscan-Geräten sollten als zusätzliche Testpunkte hinzugefügt werden, um Begrenzungsscan-Funktionen wie Takt, Modus, serielle Dateneingangs-/Ausgabeklemme, Reset-Klemme zu realisieren, um die interne Funktionslogik des Geräts selbst zu testen. Erforderlich.

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