精密PCB製造、高周波PCB、高速PCB、標準PCB、多層PCB、およびPCBアセンブリ。
以下はプリント基板表面 絶縁抵抗（SIR）測定：
SIR（表面絶縁抵抗）は通常、回路基板の信頼性を試験するために用いられる。この方法はPCB基板上に対の電極を交互に交互に配置してパターンを形成し、そして、はんだペーストを印刷する. ), その後、一定の高温高湿環境において、一定の長時間試験（24 H、48時間, 96時間、168時間）、そして、リークが遅いラインの間の瞬間短絡または絶縁故障があるかどうか観察する.
このテストはまた、はんだペースト中のフラックスまたは他の化学物質が電子部品の電気的特性に影響するPCB表面上の任意の残留物を有するかどうかを確認するのに役立つ。一般に，この方法を用いて静的表面絶縁抵抗（sir）と動的イオンマイグレーション（イオンマイグレーション）を測定した。また、CAF（導電性陽極フィラメント）としても使用できます。
注:cafは主にフラックスの影響を測定するために使用されます PCBボード ガラス繊維表面の分離.
表面絶縁抵抗（sir）は，集合体の信頼性に及ぼす汚染物質の影響を評価するために広く用いられている。他の方法と比較して，sirは局所汚染を検出するだけでなく，イオン回路及び非イオン性汚染物質の影響を測定した。その効果は、他の方法（清潔度など）よりはるかに優れています。銀クロム酸塩.など）効果的で便利です。
PCB配線は緻密化し，はんだ接合部が密着してきているので，はんだペーストフラックスのユーザビリティ評価の基準としても使用できる。
櫛型，櫛型回路は「多指」インターレース高密度回路パターンで，ボードの清浄度と緑色塗料絶縁の高電圧試験に使用できる。
SIR測定標準: IPC - TM - 650
SIR実験のためのテストボードは、4つの一対の電極をインターレースし、接続して櫛パターン（パターン）を形成する
PCBインピーダンステスト
一対の電極を持ち、櫛型のパターンに接続された一対の電極によるSIR実験のグループ
SIRを測定する際には、ハンダペーストを櫛型（パターン）上に印刷し、ハンダペーストで印刷され、環境試験機に配置されたSIRテストボードに垂直に置き、45 VDCのバイアス電圧を加えて、環境試験条件を以下に示す。
85±2度摂氏＋20 % RH
少なくとも15分
85±2度摂氏＋85 % RHは、少なくとも1時間後に50 VDCバイアスを印加し始める
24時間後に100 VDCで測定値
他の24時間後、サーValuesを測定するために100 VDCを使用します
他の48時間後、サーValuesを測定するために100 VDCを使用します（合計96時間）
96時間後、100 VDCを使用してSIR値を測定します（合計168時間）
定期的な間隔でレコードの変更を記録します。
