PCB技術 - 回路基板メンテナンスにおけるオンラインテスタの応用

新しいメンテナンスツールオンラインテスター, そして、テスタの機能特性とそれを使用する方法と手順に集中します 回路基板.

1オンラインテスターの機能特性

1.1はじめに

オンラインテスターは、PCBボードを修復するための機器です。これは、小型および中規模のデジタル集積回路、メモリといくつかの大規模集積回路チップのオン/オフライン機能テストを完了することができますまた、テストすることができます。PCB上の任意のノード（はんだ）上のVI曲線を格納し、比較する（いわゆるオンラインテストはPCBボード上にはんだ付けされたコンポーネントのテストを指し、オフラインテストはPCBボードから分離された構成要素のテストを指す）。

機能テスト（ICFT）

ポスト駆動原理を使用して回路を駆動し、次にテストのゲートの出力を解析し、結果を得る。ポスト駆動の原理は、テスタの意図に従って回路を変更し、その入力端のレベルをより高くまたはより低くすることである。そのため、テスト中のドアは、その出力および入力が、指定された要求論理関係を満たすかどうかを参照して、回路チップの論理関数テストを完了するように、周囲回路から分離される。

(2) VI curve test (V-I)

比較形態で故障点を判定する。最初のテストPCBボード上の2つのノードをテストし、電圧（V）-電流（I）の関係曲線を取得し、テスト結果を保存します。将来の比較演算の標準として。同じタイプのPCBボードが故障すると、故障したボードの任意の2つのノードでviテストを実行するために、オンラインテスターを使用することができます。また、比較の結果、通常のPCBボードの対応する2つのノードの間のvi曲線を呼び出します。比較結果が通常の範囲を超えた場合に比べて、2つのノードが故障点のいずれかである必要があります。

メモリテスト

ランダムリード／ライトメモリ（RAM）については、書き込み／読み出し方法をテストして、すなわち、メモリセルに最初にデータを書き込み、それを読み出し、2つのデータが同じであるかどうかを確認するために、それらが異なる場合、メモリは不良となる。ROM（ROM）のために、最初にその記憶装置の内容を読みとって、それをコンピュータに格納してください。将来、不良回路基板上の対応するメモリから読み出された内容と比較し、問題がないことを示す。

ステータステスト

これは、デバイスの各ピンのレベルの状態をテストし、良いデバイスと比較して判断される。

カスタムテスト

オンラインテスターはまた、デジタル回路機能テストプラットフォームを提供します。ユーザは、被試験デバイスの入力ピンの励起を定義し、出力と入力との論理的関係を記述することができる。論理的な関係が満たされた場合、デバイスに問題はありません。

2.1基本原則

（1）まず，電源投入後のテストは，保守工程において重要な原理である。すなわち、テスト用テスタを使用する前に、回路チップの動作電源をチェックする必要がある。電源が短絡される場合、器具は電源オン試験の間、損害を受けることができる。

（2）まずテストを行い、PCB基板を最初にテストし、テスト結果に従って解析し、不良箇所を特定する。

(3) Diagnose first and then deal with it-try to reduce the fault to the smallest extent, そして、より大きな確実性でコンポーネントを取り替える. ?

2.2修理方法

（1）オフラインで、それからオンラインで－オフラインテストの高い精度のために、ボード上のプラグ可能なコンポーネントはオフラインテストのために取り除かれなければなりません。

（2）インターフェースの最初、次に修理時にコンポーネントがPCB上の各インターフェイスピンにVIカーブテストを行うのがベストです。多くの欠点がインタフェース回路によって引き起こされるので、インターフェースをテストすることは時々すぐに故障を見つけることができます。

（3）離散成分の離散的な1次積分をテストし，離散成分の故障率が高いため，集積チップをテストする。

（4）第1の機能およびそれからVIである、すなわち、PCB上で試験されることができる集積ブロック上のファンクションテストを実行して、それから試験されることができない統合ブロック上のvi曲線試験を実行することは、よりよい。機能テストの結果がより直感的で信頼性が高いので、それは、故障がより速く見つけられることを確実にすることができます。

3.1メンテナンス前の準備

( 1 ) PCB上のコンポーネントにラベルがない場合は、PCBコンポーネントの場所のダイアグラムを描画し、図の番号をマークする必要があります。テストするときは、このラベルを使用して識別します。

(2) Establish a comparison library. This is an important task before using the online tester to repair the PCBボード. The so-called library building refers to the test results of the component pin status, VI曲線, 読み出し専用メモリデータと他のテスト結果 PCBボード テストを通じて, メンテナンス中に障害ボードとの比較と分析のために呼び出すことができるように.

3.2修理ステップ

1）理解する。PCBボードが修理される必要があるとき、あなたは失敗現象について尋ねなければならなくて、注意深く燃えて、吹き飛ばされたヒューズ、ルーズなプラグインまたは接続の切断された接続のような明白な失敗があるかどうか観察しなければなりません。

2）電源をテストする。マルチメータを使用してPCB上のコンポーネントの動作電源に短絡があるかどうかを確認します。

3）オフラインテスト。ボード上のプラグイン可能なコンポーネントを削除し、オフラインテストを実行します。

4）オンラインテスト。ボード上の他のコンポーネントをテストして失敗点を決定します。故障位置処理プロセスを図2に示す。

5）試運転。故障点が決定されて、排除されたあと、それは故障が完全に排除されるかどうか確かめるためにオンラインでテストされなければならない。まだ動作しない場合は、上記の手順に従って再度エラーを見つける必要があります。

(6) Organize records. During the testing process (including building a comparison database), テスト中にレコードを作ろう, 特に不審な場所があるところ, and record the phenomena observed during the test in detail. 最後に, sort and save the records so that they can be used as a reference when encountering the same type of templates or similar failure phenomena in the future.

（1）テスト前にマルチメータを用いて基板上の部品の動作電源を短絡したかどうかをチェックする。がある場合は、最初に削除します。

（2）パワーオンテスト中に、過熱成分があるかどうかを確認するために、コンポーネントの表面に触れてください。がある場合は、最初に過熱成分を除去または除去する。

（3）ボード上に発振器がある場合は、最初にそれを取り除くか、または短絡して、動作を停止する。テスト中のパルスの発生を防ぎ、テスト結果に影響を与えます。

（4）回路基板上に電池駆動メモリがあるかどうかを調べる。もしそうならば、関連した人員に彼らの内部データが役に立つかどうか尋ねてください。それが役に立つならば、それはテストされることができません、さもなければ、そのデータは修正されるかもしれません、あるいは、データは失われるかもしれません。

(5) Since the characteristics of components of the same model are somewhat different, VI曲線比較試験, the corresponding node curve of each board of the same model is also different. 一般に, つのカーブが大きく異なるとき, この場所は欠点点の一つかもしれない.

VI曲線試験の間、電圧電流曲線は、通常、基準点として基板上の電源接地をとる。しかし、ボード上のいくつかのコンポーネントまたはインターフェースの間の抵抗および電源グラウンドは、あまりに大きいかまたは切り離される。このとき、回路ノードを基準点としてカスタマイズすることができる。

(7) In the maintenance of the PCB回路基板, オンライン機能テストで「違法な電源またはグラウンドピン」があるとき、2つの可能性があります：1. The tested device is not clamped properly by the test clamp, 接触が悪い. 2. The device does have other pins (except the working power supply and ground pin of the device itself) connected to the power or ground. The solution is to temporarily disconnect these pins from the power or ground, それからテスト.