PCB-Neuigkeiten - Grenzscan der IKT-Technologie

GrenzSkannnennen der IKT-Technologie

In achtzig zu neunzig Prozent von Leeserplbeesenhersteller, IKT Prüfunger verlangen bei am wenigsten eine Prüfung Punkt für jede Schaltung Knchten. Allerdings, als die Integrbeiion von Geräte Erhöhungen, die Funktionen sind bekommen stärker, die Paket istttttttttt bekommen kleiner und kleiner, die Zahl von SMT Verarbeesung Komponenten Erhöhungen, die VerwEndeung von mehrschchtig Bretter, und die Zunahme von Leiterplbeite Komponente Dichte, it is notwendig zu setzen a Sonde bei jede Knoten Es wird sehr schwierig. In Bestellung zu Zunahme die Prüfung Punkte, die Herstellung Kosten is erhöht; at die gleiche Zeit, it wird schwierig zu entwickeln a Prüfung Bibliodiek von kraftvoll Geräte, und die Entwicklung Zyklus is verlängert. An dies end, die Gelenk Test Organisation ((JTAG)) bekannt gegeben die IEEE1149.1 Prüfung Stundard.

IEEE1149.1 definiert mehrere wichtige Eigenschaften eines Skanngeräts. Zunächst werden die vier (fünf) Pins definiert, aus denen der Test Access Podert ((TAP)) besteht: TDI, TDO, TCK, (TMS), ((TRST)). Die Auswahl des Prüfmodus (TMS) wird zur Lalstregelung verwendet; Zweitens wird der TAP-Controller definiert Mehrere verschiedene Testmodi werden unterstützt, hanach obentsächlich externer Test ((EXTEST)), interner Test ((INTEST)) und laufender Test (RUNTEST); Schließlich wird die Grenze Skann Sprache (Boundary Skannnennen Beschreibung Language) vorgeschlagen, und die BSDL Sprache beschreibt wichtige InFormationen von Scangeräten. Es definiert die Pins als Eingabe-, Ausgabe- und bidirektionale Typen und definiert den TAP-Modus und den Befehlssatz.

Jeder Pin eines Gerätes mit Boundary Scan ist mit einer Einheit eines seriellen Verschiebungsregistrierens ((SSR)) verbunden, die als Scan Unit bezeichnet wird. Die Scaneinheiten werden zu einer Schaltregistrierenkette miteinunder verbunden, die zur Steuerung und Erkennung von Geräteleitungen dient. Fuß. Seine spezifischen vier Pins werden verwendet, um die Testaufgabe abzuschließen.

Verbinden Sie die Scanketten mehrerer Scangeräte über ihre TAP, um eine kontinuierliche Grenzregistrierenkette zu bilden. Dals Hinzufügen eines TAP-Signals am Kopf der Kette kann allee Pins der Geräte steuern und erkennen, die mit der Kette verbunden sind. Diese Art von virtuellem Kontakt ersetzt den physischen Kontakt der Nadelbettbefestigung zu jedem Pin des Geräts, und der virtuelle Zugang ersetzt den tatsächlichen physischen Zugang, entfernt eine große Menge von TestPads, die den Leiterplattenraum einnehmen und reduziert die Herstellungskosten der Leiterplatte und der Vorrichtung.

Als Teststrategie kann beim Entwurf der Leiterplatte auf Testbarkeit eine spezielle Svontwsind verwendet werden, um Schaltungspunkte und Geräte mit Scanfunktionen zu analysieren, um festzustellen, wie eine begrenzte Anzahl von Testpunkten effektiv platziert werden kann, ohne die Testabdeckung zu verringern. Der wirtschaftlichste Weg, Prüfpunkte und Prüfstifte zu reduzieren.

Die Boundary Scan Technologie löst die Schwierigkeit, Testpunkte nicht zu erhöhen. Noch wichtiger ist, dalss es eine einfache und schnelle Methode zur Generierung von Testmustern bietet. Mit Svontwsind-Tools können BSDL-Dateien in Testmuster konvertiert werden, wie Teradyne Viczury und GenRads Grundlegende Scan und Scan Pfad Finder. Lösen Sie die Schwierigkeit, komplexe Testbibliodieken zu schreiben.

Der TAP Access Port kann auch verwendet werden, um Anline-Programmmierungen (In-System Programm oder On Board Programm) wie CPLD, FPGA und Blitz Memroy zu implementierenieren.

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