ATE-Chip-Prüfplatine

Wir nennen die IC-Testchip-Ausrüstung ATE (automatische Testausrüstung), und die in ATE verwendete Leiterplatte wird ATE-Testchip-Leiterplatte genannt. Im Allgemeinen wird eine große Anzahl von ATE-Testfunktionen zusammengetragen, und ate wird vom Computer gesteuert, um die Funktionalität von Halbleiterchips zu testen, was die Kombination von Software und Hardware umfasst.

Dies beginnt mit dem Prozess der Halbleiterkonstruktion und -herstellung.

Ein Halbleiterprodukt durchläuft drei industrielle Prozesse: IC-Design, Waferherstellung und Verpackung.

Alle Testchipprodukte benötigen zwei wichtige Testknoten:

Chip-Sondierung (CP): at wird in dieser Phase Sondestufe genannt

Abschlusstest (kurz FT)

Der Chip wird nach dem Verpacken getestet, und verschiedene Chiptypen haben unterschiedliche Testmethoden und Anforderungen.

Chiptyp:

Analog: Simulation ist ein Konzept, über das man langsam sprechen kann. Kurz gesagt, es ist die Schnittstelle, um die physische Welt wahrzunehmen. In Bezug auf die Signalcharakteristik ist das analoge Signal kontinuierlich

Digitaler Chip: die Verwendung digitaler Signale zur Übertragung von Dateninformationen, wie Mikroprozessoren. In Bezug auf die Signalcharakteristik ist es diskret. Wie in der folgenden Abbildung gezeigt

Gemischter Signalchip: Natürlich gibt es zwei Arten von Signalen, und verschiedene Funktionen sind integriert. Wie DSP- und SOC-Chips.

Speicher zum Hochgeschwindigkeitsbus-Chip: Das Testprojekt dieser Art von Chip ist relativ komplexer und hat spezielle Testanforderungen an seine eigenen Produkteigenschaften.

Was ist das System für Chiptest?

Tester, DIB-Sondenkarte, Handler, Testsoftware (es gibt verschiedene Sprachen und Module entsprechend verschiedenen Arten von Maschinen für Ingenieure zu entwickeln)

Chiptest

Prüfchip

Wie funktioniert das Testsystem im Allgemeinen?

Zunächst erzeugt die Chipprüfmaschine einen Satz von Signalen entsprechend den Anforderungen des Prüfprogramms, das im Allgemeinen sehr einfach ist. Das Muster wird in den zu prüfenden Chip eingegeben, und der Chip überträgt den Ausgangswert an die at-Maschine entsprechend dem Eingang und seiner eigenen Funktion. Die Maschine vergleicht den Ausgangswert mit dem Chip gemäß dem vorprogrammierten Prüfstandard.

Wenn es die Anforderungen erfüllt, wird es bestehen; Sonst wird es scheitern. Natürlich gibt es einen Toleranzwert für den Standard, ansonsten der Ausfallstapel, eine so strenge Durchlaufrate, wird der Konstrukteur als verrückt geschätzt. In diesem Differenzbereich können Sie jedoch weiterhin Binning-Tests durchführen, um die Produkte zu sortieren.

Schließlich testet das Testprogramm unseren Chip, indem verschiedene Spannung, Strom und Timing geändert und anschließend Debugging und Charakterisierung durchgeführt werden.

Nehmen wir Speicher-IC als Beispiel, sind die Testelemente im Allgemeinen DC-zu-AC-Parametertest plus Funktionstest

Der DC-Parametertest umfasst das offene Ende des Signalstifts, das offene Ende des VCC-Stifts kurz, Standby- und ICC-Strom- und Lecktest im Betrieb.

AC-Parametertest kommt hauptsächlich vom TCAC (Spaltenzugriffszeit) Test

Für Timing-Test: Rüstzeit, Haltezeit, Ausbreitungsverzögerung und Timing-Kalibrierung

Der gemeinsame Anwendungsbereich der Prüfmaschine ist wie folgt:

Speicher-IC

ADVANTEST t55xx Serie

ADVANTEST t53xx Serie

Nächste Magnum Serie

Credence Kalos

Verigy V4000 Serie

Verigy v5000 Serie

Verigy v93000 HSM Serie

KingTiger KT2/KT3

Digital, Mixed Signal oder SOC Chip

Teradyne Tiger Serie

Teradyne Flex Serie Ultra flex

Teradyne J750 Serie

Teradyne Katalysatorserie

Credence Saphir

Credence Viertelduo Reihe

Credence Saphir D Serie

Credence SC Serie

Schlumberger exa 2x00 Serie

Verigy v93000 SOC Serie

Agilent 9400 Serie

LTx Fusionsserie

Advantage t77xx Serie

ADVANTEST T2000 Serie

ADVANTEST t65xx TT 67xx Serie

LCD-Treiber

Yokokawa ts67xx Serie

ADVANTEST t63xx Serie

Spea C3320

HF-Chip

Credence asl-3000 Serie

LTx Fusion CX Serie

Agilent 840000 Serie

Advatest T7611

Roos Instrument 7100A

Als nächstes schauen wir uns den Funktionstest Abschnitt an

Lesezyklus

Wrtie-Zyklus

Schneller Seitenmodus/EDO-Modus Prüfung

März Spalte/März Zeile

Auf dieser Basis können spezielle Funktionsprüfelemente hinzugefügt werden

Checkboard

Schmetterling

Diagonen

Bewegliche Inversion

Speichertest hat seine eigene Besonderheit, aber es ist die gleiche wie andere Arten von ATE-Testchips in der Zusammensetzung. Nicht mehr als Kontakt-Kontinuitätstest (offen kurz), DC-Parametertest, AC-Timing-Test, digitaler Funktionstest und gemischter Signaltest.