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PCB 기술 - ICT란?PCBA 테스트에서 ICT 테스트의 역할

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PCB 기술 - ICT란?PCBA 테스트에서 ICT 테스트의 역할

ICT란?PCBA 테스트에서 ICT 테스트의 역할

2021-10-22
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Author:Downs

ICT 테스트 시 테스트 프로브는 PCBA 보드의 테스트 포인트에 접촉하는 데 사용되며, 단락, 개로, SMT 패치, 어셈블리 용접 등의 고장을 감지할 수 있다.그것은 저항, 커패시터, 센싱, 트랜지스터 발진기 등 부품을 정량적으로 측정할 수 있으며, 다이오드, 삼극관, 광결합, 변압기, 계전기, 연산증폭기, 전력모듈 등에 대해 기능 테스트를 진행할 수 있으며, 전 74시리즈, 메모리형, 공용구동형, 교환형 등 중소형 집적회로에 대해 기능 테스트를 진행할 수 있다.

ICT란?ICT(In Circuit Test System, 회로 테스트 시스템)는 중국어에서 일반적으로 회로 측정기로 사용되며 주로 PCBA 테스트(PCBA 테스트)에 사용됩니다.여기서"온라인"은"온라인"의 직역으로, 주로 온라인의 구성 요소를 가리킨다.온라인 테스트는 회로를 끊거나 부품 핀을 제거하지 않는 테스트 기술입니다.'온라인'은 ICT가 회로의 구성 요소를 테스트하거나 회로 및 단락 상태를 통해 회로 기판 조립 문제를 감지하는 데 집중하고 있음을 반영한다.

ICT의 기본 기능을 사용하여 측정할 수 있는 PCB 구성 요소는 무엇입니까?

회로 기판

개로, 단락, 저항, 커패시터, 인덕션, 다이오드, IC 보호 다이오드 테스트 등이다.

ICT를 사용해야 하는 이유

PCB 조립 업계의 통계 데이터에 따르면, 조립 결함은 주로 회로 기판 용접 회로, 단락, 오프셋, 부품 부족 등 방면에서 구현되며, 90% 를 넘는다. 아래 그림과 같이, 따라서 온라인 테스트 기술 응용의 원리는 고장난 부품이나 조립 결함을 신속하게 감지할 수 있다는 것이다.결함을 정확하게 파악하고 분류할 수 있습니다.

ICT를 만용표로 볼 수 있을까?

ICT는 회로 분리(Guarding) 기능이 있어 회로에 있는 각 부품의 실제 값을 정확하게 측정할 수 있는 자동화된 고급 만능 시계로 볼 수 있다.

ICT와 일반 전기 계량기의 기능 차이는 무엇입니까?

전기 계량기는 단일 부품을 측정하는 데 쓰인다.ICT는 개별 부품 측정 외에도 실제 보드에서 바늘로 부품을 측정할 수 있습니다.다만 실제 회로기판에는 루프가 많아 신호원과 분압을 쉽게 분할할 수 있기 때문에 측정을 정확하게 하기 위해'보호'기능을 추가해야 하는 경우가 많다.

ICT와 AOI의 관계는 무엇입니까?

ICT는 주로 전기적 측정 방법을 통해 이루어지지만 AOI는 광학 영상 처리 기술을 통해 이루어진다.양자는 각각 장점이 있어 서로 보완하고 서로 돕는다.프로세스 스케줄링에 있어서는 먼저 AOI, 그 다음에 ICT가 있습니다.

PCBA 테스트에서 ICT 테스트의 역할

1. 정보통신 기술은 용도가 광범위하고 측정 정밀도가 높으며 검출된 문제에 대해 명확한 설명이 있다.이것은 표준적인 테스트 방법이다.전자 기술이 일반적인 노동자에게는 문제가 있는 PCBA를 처리하는 것이 매우 쉽다.정보 및 통신 기술의 사용은 생산성을 크게 향상시키고 생산 비용을 절감할 수 있습니다.

2. ICT 테스트는 주로 테스트 프로브가 PCB 레이아웃의 테스트 포인트에 접촉하여 PCBA 각 부분의 개로, 단락 및 용접을 검사한다.회로 테스트, 단락 테스트, 저항 테스트, 용량 테스트, 다이오드 테스트, 삼극관 테스트로 나눌 수 있습니다.,필드 효과 튜브 테스트, IC 핀 테스트(testjet'connect-check-BasicScan Bist) 및 누락, 잘못된 설치, 매개변수 값 편차, 용접점 용접, 회로 기판 회로 및 단락 등의 기타 일반 및 특수 구성 요소,또한 프린터나 모니터를 통해 어떤 부품이 고장났는지 또는 회로 또는 합선이 어느 지점에 있는지 정확하게 알려줍니다.

3. TTL, OP RELAY 등 기능 부품의 기능 테스트와 IC 프로그래밍.

ICT 테스트의 몇 가지 방법은 다음과 같습니다.

1. 시뮬레이션 장치 테스트

연산 증폭기를 사용하여 테스트하다.'A'를 클릭하면'가상 토지'의 개념은 다음과 같습니다.

âµIx=Iref

Rx=Vs/V0*Rref

Vs와 Rref는 각각 격려 신호원과 기기의 계산 저항이다.V0을 측정한 다음 Rx를 계산할 수 있습니다.측정할 Rx가 커패시터 또는 센싱이면 Vs는 AC 신호원이고 Rx는 임피던스 형태이며 C 또는 L도 얻을 수 있습니다.

2. 벡터 테스트

디지털 IC의 경우 벡터(Vector) 테스트를 사용합니다.벡터 테스트는 입력 벡터를 시뮬레이션하고 출력 벡터를 측정하며 실제 논리 기능 테스트를 통해 장치의 품질을 판단하는 진가표 측정과 유사합니다.예: NAND 테스트

아날로그 IC 테스트의 경우 IC의 실제 기능에 따라 전압과 전류를 발생시키고 해당 출력을 기능 블록 테스트로 측정할 수 있습니다.

3. 비벡터 테스트

현대 제조 기술의 발전과 대규모 집적 회로의 사용에 따라 부품에 대한 벡터 테스트 프로그램을 작성하는 데 많은 시간이 소요됩니다.예를 들어, 80386 테스트 프로그램은 거의 반년 동안 숙련된 프로그래머가 필요합니다.SMT 부품의 대량 응용은 부품의 핀 오프로드 고장 현상을 더욱 두드러지게 한다.이를 위해 각 회사의 벡터 없는 테스트 기술인 Teradyne은 MultiScan을 출시했습니다.GenRad에는 Xpress 비벡터 테스트 기술이 도입되었습니다.

ICT 테스트는 생산 과정의 백엔드에 있다.PCBA 테스트의 첫 번째 공정은 PCBA 보드 생산 과정의 문제를 적시에 발견 할 수 있으며 공정을 개선하고 생산성을 향상시키는 데 도움이됩니다.