PCB技術 - ICTとはPCBAテストにおけるICTテストの役割

ICTテスト中, テストプローブは、 PCBAボード, 短絡を検出できる, 開放回路, SMTパッチ及びコンポーネント溶接及び他の故障. 抵抗を定量的に測定することができる, 静電容量, inductance, 水晶発振器その他, ダイオードの機能テストを行う, 三極, 光結合, 変圧器, リレー, オペアンプ, パワーモジュール, etc., 小型・中規模集積回路の機能テストを行う, 全74シリーズなど, メモリタイプ, 共通ドライブタイプ, 交換タイプと他のICS.

ICTとは回路テスタのように一般的に中国語で使用されるICT（in - in - test test system）は、主としてPCBAテスト（PCBAテスト）に用いられる。ここで「オンライン」とは、「インサーキット」のリテラルな翻訳です。オンラインテストは、回路を切断しないで、コンポーネントピンを削除しないテスト技術です。「オンライン」は、ICTが回路上の構成要素またはオープンおよび短絡回路状態をテストすることによって回路基板アセンブリ問題を検出することに集中することを反映する。

どちら PCBコンポーネント ICTの基本機能で測定できる?

オープン、ショート回路、抵抗、キャパシタンス、インダクタンス、ダイオード、IC保護ダイオードテストなど。

なぜICTを使うのか？

PCB組立産業の統計データによれば、組立欠陥は、回路基板溶接開放回路、短絡回路、オフセット、欠け部品等に主に反映され、以下の図に示すように、90 %以上を占めているので、オンラインテスト技術アプリケーションの原理は、故障成分または組立欠陥を迅速に検出することができる。欠陥と欠陥の分類を正確に見つけることができます。

ICTはマルチメータとみなすことができるか

ICTは自動化された高度なマルチメータと見なすことができ、回路分離の機能を持っているため、回路内の各部品の実際の値を正確に測定することができる。

どのようなICTと一般的な電気メーターの間の機能の違いは何ですか？

電気部品は、1つの部分を測定するために使用されます。単一の部分を測定することに加えて、ICTはまた、ニードルベッドを介して実際のボード上の部品を測定することができます。それは実際のボード上に多くのループがあるだけで、信号源を分割し、電圧を分割するのは簡単ですので、しばしば測定を正確にする“ガード”機能を追加する必要があります。

ICTとAOIの関係は？

ICTは主に電気的測定法によって行われ、AOIは光学画像処理技術によって行われる。どちらも自分の強さを持ってお互いを補完する。プロセス配置に関しては、AOI最初、ICT。

PCBAテストにおけるICTテストの役割

ICTは広範囲にわたる使用、高い測定精度、および検出された問題の明確な指示を持っています。それは標準的なテスト方法です。それは問題のPCBAを扱うために平均的な電子技術を持つ労働者にとって非常に簡単です。ICTの使用は、生産効率を大幅に改善し、製造コストを削減することができる。

2 . ICTテストは、PCBレイアウトのテストポイントに接触するテストプローブを通して、PCBAの全部品の開回路、短絡、および溶接を検出することである。オープン回路テスト，短絡回路テスト，抵抗テスト，キャパシタンステスト，ダイオードテスト，トライオードテストに分けられる。電界効果管試験、ICピンテスト（Testjet、Connect Check BasicScan BIST）、その他の一般的で特殊な部品、不足しているインストール、間違ったインストール、パラメータ値偏差、はんだ接合溶接、回路基板の開いている短絡と他の欠点のような他の一般的な、そして、他の欠点。そして、どのコンポーネントが故障であるか、またはどのポイントにおいて、開いているか短絡回路が位置するかは、正確にプリンタまたはスクリーンディスプレイを通してユーザーに話される。

TTL，OPリレー，その他の機能デバイスの機能テストとICプログラミング

ICTテストのいくつかの方法は以下の通りです。

アナログ装置試験

試験用のオペアンプを使用A点からの仮想ランドの概念は

アックス・ワン

Res = Rx = VS / V 0 * Rref

VSとrrefはそれぞれ音源の音源信号と計算された抵抗である。V 0を測定し、Rxを計算することができます。測定すべきRxが静電容量またはインダクタンスである場合、Vsは交流信号源であり、Rxはインピーダンス形態であり、CまたはLも得られる。

ベクトルテスト

ディジタルicはベクトル（ベクトル）テストを用いる。ベクトル試験は、入力ベクトルが刺激され、出力ベクトルが測定され、デバイスの品質が実際の論理関数テストを通じて判断される真理値表測定に類似している。NANDテスト

アナログICのテストには、ICの実際の機能に応じて電圧と電流を励磁し、対応する出力をファンクションブロックテストとして測定することができる。

非ベクトル試験

現代の製造技術の開発と非常に大規模集積回路の使用によって、デバイスのためのベクトル試験プログラムを書くのに、多くの時間がかかる。たとえば、80386のテストプログラムは、ほぼ半年間熟練したプログラマを取る。smtデバイスの多くの応用は，デバイスピン開放回路の故障現象をより顕著にした。この目的のために、各企業の非ベクトルテスト技術、Teradyneマルチスキャンを開始GenradはXPressの非ベクトルテスト技術を導入しました。

ICTテストは生産工程の裏側にある. の最初のプロセス PCBAテスト の問題を検出する PCBAボード 生産過程, これは、プロセスを改善し、生産効率を高めるのを助ける.