PCBA技術 - PCBAテストにおけるICTテスト技術の紹介

ICTテストは主に PCBAボードテスト. ICTは自動化された高レベル電力計と等価である, そして、それはコンポーネントを隔離する機能を持っているので, これは、回路内の各コンポーネントの実際の値を正確に測定することができます.

ICTテストで, テストプローブは、主にテストポイントに連絡するために使用されます PCBAボード, 短絡を検出できる, 開回路部品溶接. 抵抗を定量的に測定することができる, 静電容量, inductance, 水晶発振器その他, ダイオードの機能テストを行う, 三極, 光結合, 変圧器, リレー, オペアンプ, パワーモジュール, etc., 小型・中規模集積回路の機能テストを行う, 全74シリーズなど, メモリタイプ, 共通ドライブタイプ, 交換タイプと他のICS.

PCBAテストにおけるICTテスト技術の紹介

ICTテストのいくつかの方法は以下の通りです。

アナログ装置試験

試験用のオペアンプを使用A点からの仮想ランドの概念は

アックス・ワン

Res = Rx = VS / V 0 * Rref

VSとrrefはそれぞれ音源の音源信号と計算された抵抗である。V 0を測定し、Rxを計算することができます。測定すべきRxが静電容量またはインダクタンスである場合、Vsは交流信号源であり、Rxはインピーダンス形態であり、CまたはLも得られる。

ベクトルテスト

ディジタルicはベクトル（ベクトル）テストを用いる。ベクトル試験は、入力ベクトルが刺激され、出力ベクトルが測定され、デバイスの品質が実際の論理関数テストを通じて判断される真理値表測定に類似している。などのNANDゲートテスト。アナログICのテストには、ICの実際の機能に応じて電圧と電流を励磁し、対応する出力をファンクションブロックテストとして測定することができる。

非ベクトル試験

現代の製造技術の開発と非常に大規模集積回路の使用によって、デバイスのためのベクトル試験プログラムを書くのに、多くの時間がかかる。たとえば、80386のテストプログラムは、ほぼ半年間熟練したプログラマを取る。smtデバイスの多くの応用は，デバイスピン開放回路の故障現象をより顕著にした。この目的のために、各企業の非ベクトルテスト技術、Teradyneマルチスキャンを開始GenradはXPressの非ベクトルテスト技術を導入しました。

ICTテストは生産工程の裏側にある. PCBAテストの最初のプロセスは、 PCBAボード生産 process in time, これは、プロセスを改善し、生産効率を高めるのを助ける.

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