PCBニュース - 測定結果の特殊事例

静電容量の影響

コンデンサがテストされたピンの間で接続されるとき, それは開いた回路関係でなければなりません, しかし、スイッチが閉じられるとき、測定経路はコンデンサを充電する, そして、2つの測定点は. この時に, 電圧比較器から読み取られた測定結果は、経路16である. 静電容量に起因する誤った経路現象のために, 以下の2つの方法を使用して、測定時間を適切に増加させ、充電時間を短くする, 測定結果を読む前に充電処理を終了するプログラムセグメントに対して真と偽のパスの検査を追加する.

2インダクタンスの影響

インダクタがテストピンの間に接続されている場合, それは開いた回路関係でなければなりません, しかし、インダクタの静的抵抗は非常に小さいので, マルチメータで測定した結果は常にパス. 静電容量測定の場合に反して, アナログスイッチが閉じられた瞬間, インダクタンスによる誘導起電力がある. このように, 検出回路の高速捕捉速度の特性を用いて、インダクタンスを正しく判定することができる. しかし、これは静電容量の測定要件と矛盾している.

3 The influence of analog switch jitter

In the actual measurement, アナログスイッチは開放状態から閉状態まで安定したプロセスを有することが分かった, 電圧VAの変動として現れる, これは最初の数の測定結果を矛盾させる. この理由から, パスの結果を数度判定し、測定結果を一貫して待つ必要がある. 後で確認する.

4 Confirmation and recording of measurement results

Considering the above various situations, 異なるテスト対象に適応するために, 図3に示すソフトウェアプログラムブロック図は、測定結果を確認し記録するために使用される.

容量成分とアナログスイッチジッタの影響を除去するために, 測定時間を延長する必要がある, 誘導成分の影響を除去する, 誘導起電力を使用して短時間で測定する必要がある. この目的のために, つのカウンタがプログラムに設定されます：パスカウンタの数とオープン回路カウンタの数. パスNの数を設定することは、アナログスイッチが閉じられた瞬間にコンデンサの充電に起因する誤った経路効果を除去することである, それで, nパスの結果が累積的に読まれるとき, コンデンサの充電は一般に完了する, 測定点は経路として確認される. ブレーク数Nを設定することは、アナログスイッチ100のジッタに起因する干渉を除去することである. 一般に, Nブレークの結果が連続的に測定されるとき, アナログスイッチのジッタがブレークとして確認される前に終了したことを示す. しかし、アナログスイッチが閉じられた瞬間にインダクタンスの誘導起電力が最も大きいので, それから急速に落ちる, 第1および第2の測定結果が両方ともオープンである場合, オープンと確認. いくつかの状況の間の矛盾のために, カウンタと遅延の値は、3つの状況の重さに基づいて実際の状況に応じて決定される.

もちろん, 上記のプログラムを使用するとき, 小さい抵抗があるならば, テストピン間の小さなインダクタンスまたは大きな静電容量, パスとして誤って判断されるかもしれない. この種の問題は、測定結果のソフトウェアによって容易に確認することができる. つのピン構成要素の両端が同じネットワークにあるならば, 上記の判断誤差が存在する, 確認後削除.

上記の測定結果にはいくつかの特別な事例が導入されている PCB設計. IPCBも提供されて PCBメーカー and PCB製造 テクノロジー.