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Technologie PCB

Technologie PCB - Technologie d'analyse de défaillance PCB ultra - complète

Technologie PCB

Technologie PCB - Technologie d'analyse de défaillance PCB ultra - complète

Technologie d'analyse de défaillance PCB ultra - complète

2021-10-04
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Author:Downs

En tant que support pour divers composants et plaque tournante pour la transmission de signaux de carte, les PCB sont devenus la partie la plus importante et la plus critique des produits d'information électroniques. Son niveau de qualité et de fiabilité détermine la qualité et la fiabilité de l'ensemble de l'équipement. Avec la miniaturisation des produits d'information électroniques et les exigences environnementales sans plomb et sans halogène, les PCB évoluent également dans la direction de la haute densité, de la TG élevée et de la protection de l'environnement. Cependant, pour des raisons de coût et de technologie, un grand nombre de problèmes de défaillance sont apparus dans la production et l'application des BPC, provoquant de nombreux litiges de qualité. Pour clarifier la cause de la défaillance, trouver une solution au problème et distinguer les responsabilités, il est nécessaire de procéder à une analyse de la défaillance des cas de défaillance qui se sont produits.

Afin d'obtenir la cause précise ou le mécanisme d'une défaillance ou d'une défaillance d'un PCB, il est essentiel de suivre les principes de base et le processus d'analyse, sinon des informations précieuses sur la défaillance peuvent être manquées, ce qui empêche l'analyse de continuer ou de tirer des conclusions erronées. Le processus de base général est que, tout d'abord, en fonction du phénomène de défaillance, la position de la défaillance et le mode de défaillance, c'est - à - dire la position de la défaillance ou la position de la défaillance, doivent être déterminés par la collecte d'informations, des tests fonctionnels, des tests de performance électrique et une simple inspection visuelle. La localisation du défaut est facile à déterminer pour un PCB ou un PCBA simple, mais pour des dispositifs ou des substrats encapsulés BGA ou MCM plus complexes, les défauts ne sont pas facilement observables par microscopie et ne sont pas faciles à déterminer au fil du temps. À ce stade, d'autres moyens sont nécessaires pour déterminer. Ensuite, nous devons analyser les mécanismes de défaillance, c'est - à - dire utiliser diverses méthodes physiques et chimiques pour analyser les mécanismes qui provoquent la défaillance ou la création de défauts sur les PCB, tels que la soudure virtuelle, la contamination, les dommages mécaniques, le stress hydrique, la corrosion des médias, les dommages par fatigue, la migration CAF ou ionique, la surcharge de stress, etc.

Carte de circuit imprimé

Ensuite, il y a l'analyse des causes d'échec, c'est - à - dire, sur la base du mécanisme d'échec et de l'analyse du processus, pour déterminer la cause du mécanisme d'échec et, si nécessaire, pour effectuer la vérification des tests. En règle générale, une vérification de test doit être effectuée dans la mesure du possible, grâce à laquelle la cause exacte de la défaillance induite peut être trouvée. Cela fournit une base ciblée pour les prochaines étapes d'amélioration. Enfin, c'est la rédaction d'un rapport d'analyse de défaut basé sur les données d'essai, les faits et les conclusions obtenus au cours de l'analyse, exigeant des faits clairs, un raisonnement logique rigoureux et une organisation forte. N'imaginez pas à partir de rien.

Dans le processus d'analyse, il est important de prêter attention aux principes de base selon lesquels les méthodes d'analyse sont peu profondes et ne doivent pas perturber la réutilisation de l'échantillon. Ce n'est qu'ainsi que la perte d'informations critiques et l'introduction de nouveaux mécanismes de défaillance humaine peuvent être évités. C'est comme un accident de la circulation. Si les parties impliquées dans l'accident vandalisent ou fuient les lieux, il est difficile pour un policier avisé de déterminer avec précision la responsabilité. À ce stade, les lois sur la circulation exigent généralement que la personne qui fuit le site ou la partie qui le détruit assume l'entière responsabilité. L'analyse des défaillances est la même pour un PCB ou un PCBA. Si vous réparez les points de soudure défectueux avec un fer à souder électrique ou si vous forcez le PCB avec de grandes ciseaux, il n'y a aucun moyen de commencer l'analyse et le site défectueux a été détruit. Surtout quand il y a peu d'échantillons défectueux, une fois que l'environnement sur le site de défaillance a été détruit ou détruit, la véritable cause de défaillance ne peut pas être obtenue.

Procédures de base pour l'analyse des défaillances

Microscope optique

Le microscope optique est principalement utilisé pour effectuer l'examen de l'apparence de la carte de circuit imprimé, rechercher les sites de défaillance et les preuves matérielles connexes, déterminer à l'avance le mode de défaillance de la carte de circuit imprimé. L'inspection visuelle vérifie principalement la contamination du PCB, la corrosion, l'emplacement de l'éclatement de la plaque, le câblage du circuit et la régularité des défaillances, si elles sont en vrac ou individuelles, si elles sont toujours concentrées dans une certaine zone, etc.

Rayons X

Pour certaines pièces qui ne peuvent pas être inspectées visuellement, ainsi que pour les défauts internes et autres défauts internes des Vias de PCB, il est essentiel de les inspecter avec un système de perspective par rayons X. Les systèmes de fluoroscopie par rayons X utilisent différentes épaisseurs de matériaux ou différentes densités de matériaux pour l'imagerie basée sur différents principes d'absorption d'humidité ou de transmission des rayons X. Cette technique est plus utilisée pour vérifier les défauts internes des points de soudure PCBA dans des boîtiers haute densité, les défauts internes des Vias et la localisation des points de soudure défectueux des dispositifs BGA ou CSP.

Analyse des tranches

L'analyse de tranche est le processus d'obtention d'une structure de section transversale de PCB par une série de méthodes et d'étapes telles que l'échantillonnage, l'incrustation, le tranchage, le polissage, la corrosion et l'observation. Grâce à l'analyse de tranche, nous pouvons obtenir une richesse d'informations sur la microstructure (via, placage, etc.) qui reflète la qualité du PCB, fournissant une bonne base pour les prochaines étapes d'amélioration de la qualité. Cependant, cette méthode est destructive et l'échantillon sera inévitablement détruit une fois le tranchage effectué.

Analyse par microscopie électronique à balayage (SEM)

La microscopie électronique à balayage (SEM) est l'un des systèmes d'imagerie de microscopie électronique à grande échelle les plus utiles pour l'analyse des défaillances. Il est le plus souvent utilisé pour les observations topographiques. Les microscopes électroniques à balayage actuels sont déjà très puissants. Toute caractéristique structurelle ou de surface fine peut être amplifiée. Observé et analysé des centaines de milliers de fois.

Dans l'analyse de défaillance d'un PCB ou d'un point de soudure, le SEM est principalement utilisé pour analyser le mécanisme de défaillance. Plus précisément, il est utilisé pour observer la structure topographique de la surface des plots, l'Organisation métallographique des points de soudure, la mesure des composés intermétalliques et des revêtements de soudabilité. L'analyse et la réalisation d'analyses et de mesures de Whiskers d'étain. Contrairement à un microscope optique, un microscope électronique à balayage produit une image électronique, il est donc seulement noir et blanc, et un échantillon de microscope électronique à balayage doit être conducteur, non conducteur et certains semi - conducteurs doivent être pulvérisés avec de l'or ou du carbone. Sinon, l'accumulation de charges à la surface de l'échantillon affectera l'observation de l'échantillon. En outre, les images de microscopie électronique à balayage ont une plus grande portée que la microscopie optique et sont une méthode d'analyse importante pour les échantillons hétérogènes tels que les tissus métallographiques, les micro - coupures, les moustaches d'étain et autres.

Calorimètre à balayage différentiel (DSC)

La calorimétrie différentielle à balayage est une méthode de mesure de la relation entre la différence de puissance entre un matériau d'entrée et un matériau de référence et la température (ou le temps) sous contrôle de température programmé. C'est une méthode analytique pour étudier la relation entre la chaleur et la température. Selon cette relation, les propriétés physiques, chimiques et thermodynamiques des matériaux peuvent être étudiées et analysées. DSC a un large éventail d'applications, mais dans l'analyse de PCB, il est principalement utilisé pour mesurer le degré de durcissement et la température de transition vitreuse de divers matériaux polymères utilisés sur les PCB. Ces deux paramètres déterminent la fiabilité du PCB dans les processus ultérieurs.

Analyseur thermogravimétrique (TGA)

L'analyse thermogravimétrique est une méthode de mesure de la relation entre la masse d'une substance et la température (ou le temps) sous contrôle de température programmé. Le TGA peut surveiller les variations de qualité subtiles des matériaux au cours des variations de température contrôlées par programme grâce à une balance électronique sophistiquée. Les propriétés physiques, chimiques et thermodynamiques des matériaux peuvent être étudiées et analysées en fonction de leur qualité par rapport à la température (ou au temps). En termes d'analyse de PCB, il est principalement utilisé pour mesurer la stabilité thermique ou la température de décomposition thermique des matériaux de PCB. Si la température de décomposition thermique du substrat est trop basse, le PCB explosera ou ne pourra pas être stratifié pendant le processus de soudage à haute température.