回路基板は現代の電子機器の不可欠な構成部分であり、その構成部品の品質と状態は回路基板の動作効果と安定性に直接影響する。そのため、回路基板素子の品質と状態を検出することが特に重要である。
1.抵抗検出
抵抗器は一般的な電子部品であり、その主な機能は電流制限、分圧、フィルタリング、電圧調整などの回路に抵抗を提供することである。抵抗器の抵抗値は公称値に近いほど品質が良い。したがって、回路設計及び製造においては、抵抗器を検出することが必要である。
1)直流ブリッジ法
直流ブリッジ法は、ブリッジ回路中の抵抗値を調整することによって抵抗器の抵抗値を測定し、ブリッジ両端の電位差をゼロにするためのブリッジと呼ばれる回路を使用する一般的な抵抗器検出方法である。直流ブリッジ法は抵抗の検出精度が高く、抵抗値が小さく、精度が要求される高い抵抗に適している。
2)マルチメーター法
マルチメータ法は簡単で使いやすい抵抗器検出方法であり、マルチメータを使用して抵抗器の抵抗値を直接測定する必要がある。この方法は簡単で実行可能で、一般的な回路における抵抗検出に適しているが、精度は直流ブリッジ法に及ばない。
3)レーザ検出方法
レーザー検出法は高精度で高速な抵抗器検出方法であり、レーザー干渉計を用いて抵抗器の長さと断面積を測定し、その抵抗値を計算する。この方法は精度が高く、大量の抵抗の迅速な検出に適している。
2.容量検出
キャパシタは電荷を蓄積する装置であり、主な機能は回路にフィルタ、結合、分離機能を提供することである。回路設計と製造において、コンデンサはコンデンサと耐電圧が要件を満たすようにテストする必要があります。
1)橋梁検査方法
ブリッジ検出法は、ブリッジ回路における容量値を調整し、ブリッジ両端の電位差をゼロにすることにより、コンデンサの容量を測定するための容量ブリッジと呼ばれる回路を使用する一般的なコンデンサ検出方法である。この方法は容量値が小さく、精度の要求が高いコンデンサ検出に適している。
2)オシロスコープ法
オシロスコープ法は、オシロスコープを用いてコンデンサの充放電中の波形を表示し、コンデンサの容量値を測定する直感的で使いやすいコンデンサ検出方法である。この方法は電気容量が大きく、精度要求が低いコンデンサ検出に適している。
3.ダイオードテスト
ダイオードは一般的な電子部品であり、整流、増幅、保護などの回路のために回路中の電流を1方向に制限することが主な機能である。回路設計と製造において、ダイオードを検出して、その順方向と逆方向の接続と導電性が要求に合致することを確保する必要がある。
1)マルチメーター法
マルチメータ法は簡単で実行しやすいダイオード検出方法であり、マルチメータを使用してダイオードの正負電圧と導通電流を直接測定する必要がある。この方法は一般的な回路におけるダイオード検出に適しているが、応答時間やノイズなどのダイオードの特殊な性能を検出することはできない。
2)動的抵抗法
動的抵抗法は一般的なダイオード検出方法であり、一定の順方向電圧と直流電気を印加することによってダイオードの順方向電圧下の動的抵抗値を測定し、その導電性と品質を決定する。この方法は大量のダイオードの高速検出に適しているが、逆電圧や逆漏れ電流などの性能を検出することはできない。
3)冷熱試験方法
冷熱試験法は、一定の温度で電気的性能試験を行うことに基づいて、ダイオードの性能、例えば順方向電圧、逆方向リーク電流、オン電流、応答時間を決定する総合ダイオード検出方法である。この方法は大量のダイオードの総合性能試験に適しているが、専門的な試験装置と環境が必要である。
4.トランジスタの検出
トランジスタは重要な電子部品であり、主な機能は回路中の電流を増幅し制御することである。
1)静的パラメータ試験方法
静的パラメータ試験方法は一般的なトランジスタ検出方法である。その原理は、出力電圧、出力電流、入力電流などのトランジスタの静的パラメータを測定するために一定の電圧と電流を印加することによって、その増幅と制御性能を決定することである。この方法は小ロットトランジスタの総合性能試験に適しているが、応答時間やノイズなどの特殊な性能を検出することはできない。
2)動的特性試験方法
動的特性試験方法は総合的なトランジスタ検出方法であり、その原理は一定の交流信号と直流バイアスを印加することによってトランジスタの周波数応答、カットオフ周波数、ノイズなどの動的特性を測定し、その増幅と制御性能を決定する。この方法は大規模トランジスタの総合性能試験に適しているが、専門的な試験装置と環境が必要である。
異なる部品には、品質と性能が要件を満たすことを保証するために、異なるテスト方法と技術が必要です。実際の作業では、電子部品の品質と信頼性を確保するために、特定の回路設計と製造要件に基づいて適切な試験方法と装置を選択する必要があります。