IC基板 - 5 G ICテストシステム

IC試験システム - TS - 960 E - 5 G

TS - 960 E - 5 G

背景

の連続展開 5 G, 基地局, 小細胞, 携帯電話と産業機器は標準を必要とする IC 機器. これらのコンポーネントをサプライチェーンに含めることは ICメーカー need automated test systems for 5g chips. The automatic test system (ATE) will need to test radios, ビームフォーマー, アンプ 及び28 GHzの周波数帯域で動作する他のコンポーネント, 39 GHz and below 6 GHz; This requires the ate to include vector network analyzer (VNA) and digital I / 機器. 5 G試験装置, 我々は、ますます多くの企業が5 G市場に参入していることに気付きます. Marvin test solutions cooperates with Rohde & Schwarz to develop 5g IC エーテシステム, また、この競争に参加します.

製品紹介

1. Hardware part

The ts-960e-5g mmwave test system provides test performance up to 50 GHz. システムは実験室レベルを統合する RF performance directly into the mmwave device under test (DUT) for multi site production test or device characterization of mmwave devices. 加えて, また、デジタルおよびパラメータテストとSPI / I 2 Cインタフェースの機能制御への支援 / 検査中の装置をモニターする.

主要なコンポーネント（図2に示すように）

Rohde & Schwarz znbt40 24 channel, 40 GHz VNA

Marvin test gx7205 PXI chassis provides a dedicated 32 channel, 100 / 125 MHz DIO card and a gx3104 source measurement unit (SMU) for each DUT

Rohde & Schwarz osp320, added 4 1 * 6 switch for intermodulation test

Marvin test head has product interfaces, セイコーエプソン8040クワッドサイトカプセル化デバイスプロセッサのインターフェースを含む

内部構造図

1）オープンショート回路及びDC／AC試験

ATEの基本的なバージョンが含まれて64ダイナミックデジタルi / チャンネル, 64静的デジタルI / チャンネル, ユーザプログラマブル電源, システム自己テストと固定具. ダイナミックデジタルI / O - GX 5296, 各ピンのPMU関数, これはすぐにオープンとショート回路とDCテストを実現することができます125 MHzのデータレートはACテストを実現するのに役立つ. gtdid 6 xeasyソフトウェアと組み合わせる, パターンファイルを書き込むことができますし、インポート基本的な機能テストを検証する. 静止ディジタルI / O - gx5733 can well realize switching function and environment variable control;

The upgraded ate can be expanded to 256 dynamic digital channels and 128 static digital channels, それはシステム資源を大いに豊かにし、より大規模な量産試験に資する.

デジタルサブシステム

2) RF function test part

The znbt40 of Rohde & Schwarz used in ATE is a multi port vector network analyzer with an operating frequency range of 9 kHz to 40 GHz and can provide up to 24 channels. 楽器は、複数のdutsをテストしたり、同時に1つのdutを測定することができます, 最大24チャンネルで. 多くのポートでさえ, それは3の短い測定時間で201ポイントのスキャンを完了することができます.5 ms.

ZnBT 40は、最高135 dBの広いダイナミックレンジを有する, 高出力レベルと高出力処理能力を持つ入力. 機器は、主にアクティブで受動的なマルチポートコンポーネントを開発し、生産するために使用されます, GPSのような, WLAN, マルチバンド携帯電話のBluetoothとフロントエンドモジュール, と24チャンネルDUTのすべての576のSパラメータを決定することができます.

ネットワークアナライザに表示機能がない, オートメーション製品のために非常に合理的であるスペースを節約できる. これは、外部ディスプレイで制御することができます, マウスとキーボードまたは外部タッチスクリーン.

RFテストサブシステム

ハンドラインタフェース

自動プロセッサと統合される必要がある生産テストアプリケーションのために, TS - 960 E - 5 Gは、無能なマニピュレータを装備しています, これは、自動検出器及び装置プロセッサを有する試験ヘッド及びインターフェースの正確な位置決めを提供することができる. The device interface board (DIB) / TS - 960 E - 5 Gの受信機インターフェースは、ほとんどどんなデバイス・プロセッサーとでも互換性を持ちます.

TS - 960 E - 5 G境界パネル

エプソンNS - 8040

大量生産テストのために、システムはエプソンNS - 8040装置を備えています。製品は，高安定性，操作性，保守性の高い特性を有し，各種のシールされた転送チップの試験を行うことができる。

2 .ソフトウェア部品

ATEにおけるソフトウェア実行環境は容易である, テストプログラムの準備と実行管理を簡単に完了できます同時に, それは、ICEasyを備えています 半導体テスト ソフトウェアパッケージDioeasyフィット：パターンの変換とインポートツール；パターン編集ツール5 GのVNA, VSAテストスイート：スペクトルを実行できる, タイミング表示と統計, デジタル変調解析, etc.

AtEasyは、Windows用APIの様々なサポート, を含む, CVI, マイクロソフトとボーランド / C + +, マイクロソフト, ボーランドデルファイ.

テストアセンブリ

概要

TS - 960 E - 5 G自動5 Gチップ試験装置, 大量生産テスト速度と実験室レベルのテストパフォーマンス；40 GHz - 53 GHzのサポート 高周波チップテスト; マルチサイトFTテストまたはウエハテストを実現できる. MMWave機器の理想的な選択です / モジュールテストとキャラクタリゼーション, 試験製品及び主要製品試験, 自動故障解析.