Noticias de PCB - Máquina de prueba automática ate (equipo de prueba automática)

El dispositivo de prueba automática ate es la abreviatura de equipo de prueba automática. En la industria de semiconductores, se refiere a una máquina de prueba automática de circuitos integrados (ic) para probar la integridad de las funciones de los circuitos integrados. Garantizar la calidad de la fabricación de circuitos integrados es el último proceso de fabricación de circuitos integrados.

Edite la ubicación de ate en esta sección. es cierto que es necesario falsificar el almacenamiento durante la fabricación de todos los componentes electrónicos (dispositivos). Esta demanda es en realidad un proceso experimental. Para lograr este proceso, se necesitan varios equipos de prueba, que se llaman ate (equipos de prueba automáticos). Los componentes electrónicos DUT (dispositivos probados) mencionados aquí incluyen, por supuesto, la categoría ic, además de los componentes y dispositivos discretos. El ate existe en cada enlace de la parte delantera y trasera, dependiendo de los requisitos del diseño del proceso.

La función de editar ate en este párrafo está en el proceso del componente, y hay varios enlaces que deben probarse de acuerdo con las necesidades del proceso. El objetivo es seleccionar productos defectuosos, evitar entrar en el siguiente proceso y reducir los costos de fabricación redundantes en el siguiente proceso. Estas conexiones deben dominarse a través de diversos parámetros físicos. Estos parámetros pueden ser otros en el mundo físico de la luz, la electricidad, las ondas, la mecánica y la realidad. Sin embargo, lo más común son las señales electrónicas. Los ingenieros de diseño ate deben considerar los parámetros físicos más básicos de los componentes electrónicos, como el tiempo, la fase, el voltaje y la corriente. Esto es lo que la electrónica llama procesamiento de señales. Además, por ejemplo, lcd, PDP (pantalla de plasma) necesitan probar la función de la parte luminosa, y luego es necesario medir los parámetros ópticos.

En términos generales, hay dos categorías principales de la estructura funcional central para editar este párrafo:

1. estructura de prueba central: heredar la tecnología de prueba tradicional, la tecnología de prueba y realizar automáticamente el procesamiento de señales (medición de señales electrónicas). Para diferentes esquemas de prueba dut, la estructura de prueba central también será diferente.

2. estructura de control informático: la velocidad y la capacidad de procesamiento dependen de la capacidad informática en ese momento. De hecho, la tecnología informática se ha convertido en una tecnología universal. Para un grupo de ate, la computadora de alta velocidad no es necesariamente la mejor computadora. Para satisfacer las necesidades del sistema, la coordinación es el mejor criterio. De hecho, el precio de un complejo dispositivo ate equivale al de un bebé enano de raíz gigante en comparación con el precio de un servidor avanzado de alto índice. En general, el papel de la tecnología informática, la coordinación de los sistemas de control, las rutas de inyección de las señales de control, la adquisición y el procesamiento de los datos de control, etc. en otras palabras, la gestión informática del hardware y software del sistema es un enfoque doble: ser padre y madre, comer, beber y divertirse con lhasa. Por lo tanto, las computadoras universales ya no son aplicables, por lo que surgió la tecnología informática fa.

Sin embargo, esto todavía no cumple con los requisitos de alta velocidad y a gran escala. Por lo tanto, los expertos simplemente rompieron la estructura tradicional de las computadoras e incluso produjeron CPU especiales y chipsets especiales. Todo esto es solo una simple prueba repetida de que es la necesidad de producción la que impulsa el progreso tecnológico.

Lo anterior es la introducción de la máquina de prueba automática ate (equipo de prueba automática). El IPCB también proporciona tecnología de fabricación de PCB a los fabricantes de pcb.