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Noticias de PCB - Algunos defectos en la fabricación de circuitos multicapas

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Noticias de PCB - Algunos defectos en la fabricación de circuitos multicapas

Algunos defectos en la fabricación de circuitos multicapas

2021-09-03
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Author:Aure

Algunos defectos en la fabricación de circuitos multicapas

1.. Distorsión del circuito causada por un grabado deficiente Placa de circuito multicapa
Grabado de circuitos externos multicapa Placa de circuito, Si la cresta de cobre penetra bastante profundamente en la superficie de la placa, Después del grabado, el cobre residual puede permanecer en la región del circuito denso. Después del grabado, estos fenómenos pueden no ser fáciles de detectar, Pero no es fácil de detectar después del grabado. Después del proceso de lixiviación de níquel, Una línea o área metálica en la que se pueden encontrar líneas o bordes deformados.. Este problema se considera a veces un problema residual o de lavado deficiente., Pero esto es en realidad un problem a de grabado de circuitos o selección inadecuada de cobre.


Algunos defectos en la fabricación de circuitos multicapas

Segundo, the gold and copper that may be caused by poor tin stripping
It is necessary to pay attention to peeling tin after Etc.hing to see if there is still light gray intermetallic that has not been stripped. Si no se elimina completamente, Galopante, Decapado, Y el micro - grabado no puede ser eliminado completamente, Esto inhibirá el inicio de la reacción de lixiviación de níquel - oro. Si la reacción no comienza en absoluto, Posible fuga de cobre en la superficie dorada.

Tercero, the problem of residual copper on the wall of the copper-free through hole
The current practice of copper-free vias is mainly to perform etching and removal after full copper plating, O a través del proceso de recubrimiento del agujero para evitar el recubrimiento del agujero de estaño, Luego grabado para eliminar el cobre. Sin embargo,, La solución de grabado no puede eliminar el paladio, Por lo tanto, el níquel y el oro permanecen adsorbidos en la pared del agujero durante este proceso.. Este es un problem a directo con estos productos que no requieren metal de pared de agujero.

En la actualidad, algunos fabricantes de circuitos multicapas han introducido el llamado proceso químico de cobre, que está plagado de lixiviación de oro sin níquel. De hecho, el método simple es reducir la concentración de paladio. De esta manera, el níquel - oro posterior no se puede recubrir rápidamente, por lo que la producción de cobre a través de agujeros se puede reducir. Sin embargo, este método conllevará un riesgo potencial de actividad química inadecuada del cobre y fractura de Poros, y el rango de operación del cobre químico se reducirá. Algunos fabricantes también utilizan el método de eliminación del paladio, añadiendo un tratamiento líquido para eliminar el paladio después de retirar el baño de estaño. Sin embargo, el método debe aumentar la configuración del baño líquido en el proceso actual y los costos de funcionamiento también aumentarán.

Mientras tanto, la mayoría de los sistemas de eliminación de paladio corren el riesgo de corrosión por cobre, y algunos de los llamados sistemas especiales de eliminación de agua de Yao tienen problemas de patente y costo. Otro método es pasivar la capa de paladio en el agujero con una solución de Tiol antes de pelar el estaño, lo que hace que el proceso posterior de lixiviación de níquel - oro no funcione. Sin embargo, si el tratamiento con Tiol no es limpio, los residuos se introducirán en el tanque de extracción de estaño y la superficie de cobre se contaminará con sulfuro. El azufre en la superficie del cobre es un peligro mortal para la reacción del níquel, por lo que es difícil prevenir la exposición al cobre. Por lo tanto, todavía se está desarrollando una solución precisa para la no perforación de cobre.

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