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PCBA 기술

PCBA 기술 - 전자부품 테스트 중 노화판

PCBA 기술

PCBA 기술 - 전자부품 테스트 중 노화판

전자부품 테스트 중 노화판

2021-10-22
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Author:Downs

BURN IN BOARD는 전자 부품을 위해 특별히 설계된 테스트 보드로, 주로 부품의 노화 과정을 가속화하여 장기 사용에서의 성능과 신뢰성을 검사하는 데 사용된다.기본 구조는 일반적으로 고온 환경 제어 시스템과 고온 인쇄 회로 기판(PCB)으로 구성됩니다.이러한 테스트 보드 레이아웃에는 특정 조건에서 테스트를 반복할 수 있도록 테스트 대상 칩과 시스템에 연결할 수 있는 인터페이스와 회로가 있습니다.


BURN IN BOARD는 고온, 고압 및 고전류에서 반도체 IC를 테스트하여 초기 잠재적 장애 패턴을 식별하여 장시간 사용되는 현실 세계 조건을 시뮬레이션합니다.테스트 과정에서 BURN IN BOARD는 테스트 대상 장비의 노후화 과정을 효과적으로 가속화하여 제조업체가 문제를 조기에 발견하고 개선할 수 있도록 돕습니다.


초기에 Burn-In 단계는 전자 부품이 아직 성숙되지 않았을 때 전자 제품의 수명 주기 동안 통계적으로 욕조 곡선을 형성하는 결함이 있는 전자 제품을 조기에 출시 할 수있었습니다.이 과정은 제품이 시장에 출시되기 전에 잠재적인 품질 문제를 신속하게 식별하여 결함 제품률을 낮추고 소비자 만족도를 높인다.


일반적으로 노화판은 노화를 위한 전용 칩 콘센트와 고온에 견디는 인쇄회로기판으로 구성된다.테스트 회로는 일반적으로 노후화된 보드에 배치되며 적절한 전원 공급 장치와 신호를 수신하기 위해 골드 핑거 또는 기타 연결을 통해 테스트 시스템에 연결됩니다.


항공기 탑재 연소 테스트 프로그램

시험 준비

화상 테스트를 수행하기 전에 화상실 설치 및 정밀 오븐 및 테스트 장비와 같은 필요한 장비 구성을 포함하여 적절한 테스트 환경을 구축해야합니다.노후화된 환경은 일반적으로 온도, 습도 및 전압을 제어하여 장기 사용 조건을 시뮬레이션합니다.그런 다음 테스트할 반도체 부품을 노화판에 설치하여 후속 고부하 테스트를 준비합니다.


부하를 가하다

준비되면 테스트 장치는 각 측정 장치에 특정 전류와 신호 입력을 가합니다.이 과정은 일반적으로 칩이 극한에서 정상적으로 작동하도록 고온과 고전압에서 수행됩니다.이 단계는 잠재적 결함을 식별하는 중요한 단계로서 칩의 모든 부분이 성능을 평가하기 위해 전속력으로 실행되어야 합니다.


모니터링 및 기록

테스트 과정에서 모든 장치의 성능과 상태가 실시간으로 모니터링되고 기록됩니다.모니터링 시스템은 전류, 전압, 온도 및 장치 응답에 대한 중요한 데이터를 수집합니다.이러한 데이터는 엔지니어가 장비의 안정성과 신뢰성을 분석하고 후속 테스트 및 의사 결정을 지원하는 데 도움이 됩니다.


결과 분석

노후화 테스트가 완료되면 모든 데이터를 종합적으로 분석하여 어떤 장비가 정상적으로 작동하고 어떤 장비가 잠재적 결함으로 인해 테스트를 통과하지 못했는지 확인합니다.이 과정에서 데이터의 확실성을 높이기 위해 여러 차례 재테스트가 진행될 수 있습니다.모든 고장난 설비가 선별되어 시장에 진출한 제품이 더욱 높은 신뢰성을 가지도록 보장할 것이다.

널빤지 화상

Burn-In Board를 사용할 때 자주 발생하는 문제입니다.

열 관리 문제

노화 테스트에서 초고온 환경은 정상이다.따라서 열 관리는 중요한 고려 사항입니다.노후실의 온도를 잘못 조절하면 측정된 부품이 과열되거나 냉각이 고르지 않을 수 있다.이는 테스트 결과의 정확성에 영향을 미치고 잠재적인 신뢰성 문제를 적시에 발견하지 못할 수 있습니다.


연결 품질

노화된 보드에서 연결된 품질은 테스트의 유효성에 직접적인 영향을 미칩니다.연결이 잘못되면 신호가 손실되거나 전류가 불안정해져 테스트 데이터의 정확성에 영향을 줄 수 있습니다.그러므로 모든 연결이 느슨하지 않고 안전한지 확인하는 것이 중요합니다.


테스트 매개변수 설정

전압, 온도 및 전류를 포함한 테스트 매개변수 설정은 특정 적용 요구 사항에 따라 조정되어야 합니다.부적절한 테스트 설정으로 인해 초기 장애 분석이 정확하지 않거나 실제 적용에서 제품의 작동 조건을 시뮬레이션할 수 없습니다.따라서 테스트 전에 매개변수를 자세히 확인하는 것이 중요합니다.


장치 조정

노후화판 및 관련 설비를 정기적으로 교정하여 테스트 과정의 정확성과 신뢰성을 확보한다.여기에는 온도계의 정확성, 전원 시스템의 안정성 등이 포함된다. 장비가 제대로 교정되지 않으면 테스트 결과가 어긋나 제품 품질에 영향을 줄 수 있다.


테스트 주기 제어

테스트 주기가 너무 길거나 짧으면 결과의 유효성에 영향을 줄 수 있습니다.너무 긴 테스트 주기는 불필요한 변수를 가져올 수 있지만 너무 짧은 주기는 잠재적인 결함을 드러낼 수 없습니다.따라서 노화 시험 주기를 합리적으로 통제하는 것이 잠재적 인 제품 문제를 식별하고 해결하는 열쇠입니다.


후속 테스트

BURN IN 테스트가 완료되면 자격을 갖춘 장치는 성능과 신뢰성을 더 검증하기 위해 후속 최종 테스트를 수행해야합니다.여기에는 일반적으로 환경 적응성 테스트, 기능 테스트 등이 포함되어 실제 사용에서 제대로 작동할 수 있도록 합니다.최종 합격된 설비는 생산과 시장 판매에 투입되어 사용자 만족도를 높일 수 있다.


PCBA에 대한 소결판의 영향

소결판 (BIB) 은 전자 부품의 신뢰성을 테스트하기 위해 인쇄회로기판 조립 (PCBA) 에 널리 사용되는 특수 회로기판입니다.PCBA에서의 그 역할은 주로 다음과 같은 몇가지 면에서 구현된다.

1. 제품 신뢰성 향상

노화 테스트는 전자 부품을 고온과 고압에 노출시켜 초기 고장을 일으킬 수 있는 결함을 식별하는 데 도움이 된다.테스트 단계에서 구성 요소 성능을 모니터링함으로써 제조업체는 잠재적인 문제를 사전에 파악하고 해결하여 최종 제품의 신뢰성을 높일 수 있습니다.이 테스트 방법은 실제 사용에서 PCBA의 안정성과 내구성을 보장하고 제품 고장률을 낮추며 고객 만족도를 높이는 데 도움이 됩니다.


2. 잠재적 결함 파악

PCBA 생산 과정에서 소결판을 사용하면 제조 과정에서 발생할 수 있는 잠재적 결함을 식별하는 데 도움이 된다.테스트 과정에서 노화판은 부품에 전압과 열 순환을 가하여 실제로 사용되는 극단적인 조건을 시뮬레이션하여 잠재적인 설계 또는 재료 결함을 밝혀냅니다.이러한 테스트를 통해 제조업체는 구성 요소가 시장에 출시되기 전에 제품 사용 초기 단계의 장애 위험을 파악하여 개선 조치를 취할 수 있습니다.


3. 품질 관리 및 개선 지원

노후화 테스트는 PCBA에 중요한 품질 관리 데이터를 제공합니다.테스트 결과를 통해 엔지니어는 구성 요소 고장률이 시간에 따라 변화하는 것을 보여주는"욕조 곡선"을 그릴 수 있으며, 제조업체가 제품 성능의 지속적인 개선을 보장하기 위해 설계 및 생산 프로세스를 개선할 수 있도록 도와줍니다.또한 이러한 데이터는 결함이 있는 제품을 시장에 출시하지 않도록 솔루션을 개발하여 판매 후 유지 관리 비용을 절감하는 데 도움이 됩니다.


4. 판매 후 문제 및 제품 리콜 감소

PCBA 제조 초기 단계에서 노후화 테스트를 수행함으로써 결함 제품으로 인한 판매 후 문제를 획기적으로 줄일 수 있습니다. 제조업체는 제조 과정에서 고장 가능성이 있는 부품을 조기에 감지하고 해결함으로써 무상수리 청구, 반품 및 제품 리콜의 높은 원가를 줄일 수 있습니다.이 과정은 전자 제조업에서 회사의 명성과 고객의 신뢰를 유지하는 데 매우 중요하다.


5.기술 혁신 및 응용 개발 촉진

소결판의 응용은 기존 제품의 품질을 현저하게 향상시켰을 뿐만 아니라 관련 테스트 기술과 설비의 발전도 촉진시켰다.예를 들어, 동적 및 정적 노화 테스트 사이의 선택 및 테스트 매개 변수의 구성은 최종 테스트 결과와 데이터 정확성에 영향을 미칩니다.이러한 지속적인 기술 혁신은 PCBA 품질 관리에 더 진보된 수단을 제공합니다.


현대 전자 산업에서 BURN In BOARD는 전자 부품의 노화 테스트를 가속화하는 중요한 도구로서 제품의 장기 사용에서 잠재적 인 결함을 효과적으로 식별 할 수 있습니다.고온, 고압, 대전류에서의 전면적인 테스트를 통해 제조업체는 제품이 시장에 출시되기 전에 가능한 한 빨리 품질 문제를 발견하고 해결할 수 있어 제품의 신뢰성과 사용자 만족도를 높일 수 있다.