電子設計 - PCBテストポイントとテストホールの設計

SMT大量生産における品質確保とコスト低減のために, オンラインテストが不可欠. 試験作業の円滑な進行を確保するために, the design of the test points and test holes (electrical connection holes used for the electrical performance testing of PCB and PCB components) should be considered during PCB設計.

1）接触信頼性試験設計。原則として、テストポイントは同じ表面に配置され、均等に分配されるべきである。テストポイントのパッドの直径は、09 mm〜1.0 mmであり、関連テストピンと一致する。テストポイントの中心はグリッド上に落ち、ボードの縁の5 mm以内に設計されるべきではなく、隣接するテストポイント間の中心距離は1.46 mm以下であるべきではない。

他のいかなるコンポーネントもテストポイントの間で設計されなければならない、そして、テストポイントおよびコンポーネント・パッド間の距離はコンポーネントまたはテストポイント間の短絡を予防するために1 mm未満であるべきでなくて、テストポイントがいかなる絶縁層も塗られることができない点に注意する。

原則的に, テストホールをプロセスホールに置き換えることができる, しかし、テストホールは、ジグソーのシングルボードをテストするとき、娘ボードにまだ設計されなければなりません.

（2）電気的信頼性試験設計、すべての電気ノードはテストポイントを提供するべきである。すなわち、テストポイントは全てのI／O、パワーグラウンドおよびリターン信号をカバーすることができ、各ICは、電源および接地テストポイントを有するべきである。デバイスが1つ以上の電源および接地ピンを有する場合、テストポイントは別に追加されるべきである。集積ブロックの電源およびグランドは、2.54 mmの範囲内で配置されなければならない。IC制御線は、電源、接地または共通抵抗に直接接続することはできない。クロック・モード、データシリアル、入出力端子、リセット端子などの境界スキャン機能を実現するための補助テストポイントとしてVLSIやASICデバイスを付加し、デバイス自身の内部機能ロジックをテストする。が必要です。

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