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Sistema di prova IC 5G - TS-960E - 5G
TS-960E - 5G
Contesto
Introduzione del prodotto
1. Parte hardware
Il sistema di test ts-960e-5g mmwave fornisce prestazioni di test fino a 50 GHz. Il sistema integra le prestazioni RF a livello di laboratorio direttamente nel dispositivo mmwave sotto test (DUT) per test di produzione multi sito o caratterizzazione di dispositivi mmwave. Inoltre, MTS fornisce anche un set completo di test digitali e parametri e supporto di interfaccia SPI / I2C per controllare / monitorare funzionalmente le apparecchiature in test.
Componenti principali (come mostrato nella figura 2):
Il telaio PXI Marvin test gx7205 fornisce una scheda DIO dedicata a 32 canali, 100 / 125 MHz e un'unità di misura sorgente gx3104 (SMU) per ogni DUT
La testa di prova Marvin ha interfacce di prodotto, compresa l'interfaccia del processore del dispositivo incapsulato Seiko Epson 8040 Quad
Diagramma della struttura interna Ts-960e-5g
1) Open cortocircuito e DC/AC test
La versione base di ate comprende 64 canali I/O digitali dinamici, 64 canali I/O digitali statici, un alimentatore programmabile dall'utente, un sistema auto-test e dispositivo. Dinamico digitale I/o-gx5296, funzione PMU di ogni pin, che può realizzare rapidamente aperto e cortocircuito e prova CC; La velocità dei dati 125MHz è utile per realizzare la prova AC. Combinato con il software gtdio6xeasy, il file modello può essere scritto e importato per verificare il test funzionale di base. I/O digitali statici - gx5733 possono ben realizzare la funzione di commutazione e il controllo variabile dell'ambiente;
L'ate aggiornato può essere ampliato a 256 canali digitali dinamici e 128 canali digitali statici, il che arricchisce notevolmente le risorse del sistema e favorisce più test di produzione di massa su larga scala.
Sottosistema digitale T-960e-5g
2) Parte di prova di funzione RF
Znbt40 ha un'ampia gamma dinamica fino a 135 dB, alto livello di potenza di uscita e ingresso con elevata capacità di elaborazione di potenza. Lo strumento è utilizzato principalmente per sviluppare e produrre componenti multi porta attivi e passivi, come GPS, WLAN, Bluetooth e moduli front-end dei telefoni cellulari multi banda e può determinare tutti i parametri 576 s di 24 canali DUT.
L'analizzatore di rete non ha funzione di visualizzazione, che può risparmiare spazio - che è molto ragionevole per i prodotti di automazione. Può essere controllato da display esterno, mouse e tastiera o touch screen esterno.
Sottosistema prova RF
3) Interfaccia del gestore
Per le applicazioni di test di produzione che devono essere integrati con processori automatici, il ts-960e-5g è dotato di un manipolatore intest, che può fornire un posizionamento preciso della testa di prova e interfaccia con rivelatori automatici e processori di apparecchiature. La scheda di interfaccia del dispositivo (DIB) / interfaccia del ricevitore di ts-960e-5g è compatibile con quasi tutti i processori del dispositivo.
Pannello di confine Ts-960e-5g
EPSON NS-8040
Per i test di produzione di massa, il sistema è dotato di attrezzature Epson ns-8040. Il prodotto ha le caratteristiche di alta stabilità, funzionamento e manutenzione facili e può effettuare la prova di vari chip sigillati e trasferiti.
2. Parte software
L'ambiente di esecuzione software in ATE è ateasy, che può facilmente completare la preparazione ed esecuzione di programmi di test; Allo stesso tempo, è dotato di pacchetto software di prova a semiconduttore ghiacciato; Dioeasy fit: strumento di conversione e importazione del modello; Gtdio6xeasy: strumento di modifica del modello; 5g VNA, suite di test VSA: può eseguire spettro, visualizzazione di temporizzazione e statistiche, analisi di modulazione digitale, ecc.
Ateasy supporta una varietà di API per Windows, tra cui LabVIEW, CVI, Microsoft e Borland C / C ++, Microsoft Visual Basic e Borland Delphi.
Gruppo di prova
Sintesi
Attrezzatura automatica della prova del chip di Ts-960e-5g 5g, con la velocità della prova di produzione di massa e la prestazione della prova di livello del laboratorio; Supporto 40ghz-53ghz ad alta frequenza chip test; Può realizzare multi sito ft test o wafer test. È una scelta ideale per la prova e caratterizzazione di apparecchiature/moduli mmwave, test di prodotto e prodotto chiave e analisi automatica dei guasti.
