PCB ujian cip ATE

We call the IC test chip equipment ATE (automatic test equipment), and the PCB used in ATE is called ATE test chip PCB. Secara umum, sejumlah besar fungsi ujian ATE dikumpul bersama-sama, dan ate dikawal oleh komputer untuk menguji fungsi cip setengah konduktor, yang termasuk kombinasi perisian dan perkakasan.

Ini bermula dengan proses desain semikonduktor dan penghasilan.

Produk setengah konduktor perlu melalui tiga proses industri: desain IC, penghasilan wafer dan pakej.

Semua produk cip ujian memerlukan dua nod ujian kunci:

Pengesahan Chip (CP): ate dipanggil tahap sond dalam tahap ini

Final test (FT for short)

Cip ini diuji selepas pakej, dan jenis cip berbeza mempunyai kaedah ujian dan keperluan berbeza.

Jenis Chip:

Analog: simulasi adalah konsep yang anda boleh bercakap perlahan-lahan. Secara singkat, ia adalah antaramuka untuk menyaksikan dunia fizik. Dalam terma karakteristik isyarat, isyarat analog adalah terus menerus

Cip digital: penggunaan isyarat digital untuk menghantar maklumat data, seperti mikroprosesor. Dalam terma karakteristik isyarat, ia adalah diskret. Seperti yang dipaparkan dalam figur di bawah

Name Seperti cip DSP dan SOC.

Memori / cip bas kelajuan tinggi: projek ujian jenis cip ini relatif lebih kompleks, dan mempunyai keperluan ujian istimewa pada ciri-ciri produk sendiri.

Apa sistem untuk ujian chip?

Penguji, kad DIB / sond, pengendali, perisian ujian (terdapat bahasa dan modul berbeza mengikut jenis mesin berbeza untuk jurutera untuk dikembangkan)

chiptest

cip ujian

Bagaimana sistem ujian berfungsi secara umum?

Pertama-tama, mesin ujian cip menghasilkan set isyarat mengikut keperluan program ujian, yang secara umum sangat mudah. Corak adalah input ke dalam cip yang hendak diuji, dan cip menghantar nilai output ke mesin makan mengikut input dan fungsinya sendiri. Mesin membandingkan nilai output dengan cip menurut piawai ujian praprogram.

If it meets the requirements, it will pass; Jika tidak, ia akan gagal. Sudah tentu, ada nilai toleransi untuk piawai, jika tidak tumpukan kegagalan, seperti kadar lulus ketat, jurutera rancangan dianggap gila. Bagaimanapun, dalam julat perbezaan ini, anda boleh terus melakukan ujian binning untuk menandai produk.

Akhirnya, program ujian menguji cip kita dengan mengubah tekanan, semasa dan masa, dan kemudian nyahpepijat dan karakterisasi.

Mengambil IC memori sebagai contoh, item ujian biasanya ujian parameter DC ke AC tambah ujian fungsi

Ujian parameter DC termasuk ujian pin isyarat terbuka / pendek, pin VCC terbuka / pendek, sedia dan ICC semasa dan lekasan dalam operasi.

Ujian parameter AC terutamanya berasal dari ujian TCAC (masa capaian lajur)

Untuk ujian masa:

Skop aplikasi umum mesin ujian adalah seperti ini:

IC Memori

ADVANTEST t55xx series

ADVANTEST t53xx series

Serye magnum ujian berikutnya

Credence Kalos

Sahkan seri V4000

Verigy v5000 series

Sahkan seri HSM v93000

KingTiger KT2/ KT3

Signal digital, campuran atau cip SOC

Seri harimau Teradyne

Teradyne Flex / Ultra flex series

Teradyne J750 series

Teradyne catalyst series

Credence Sapphire

Ketempat kredit / seri duo

Serye Credence sapphire D

Credence SC series

Schlumberger exa 2x00 series

Sahkan seri SOC v93000

Seri Agilent 94000

Seri fusi LTx

Keuntungan t77xx series

ADVANTEST T2000 series

ADVANTEST t65xx / t67xx series

Pemacu LCD

Yokokawa ts67xx series

ADVANTEST t63xx series

Cakap C3320

Chip RF

Credence asl-3000 series

Seri CX fusi LTx

Seri Agilent 84000

Advatest T7611

Instrumen Roos 7100A

Berikutnya, mari kita lihat bahagian ujian berfungsi

Ciklus Baca

Cycle Wrtie

Mod Halaman Cepat/ Mod EDO Semak

Lajur Maret/ Baris Maret

Pada asas ini, item ujian fungsi istimewa boleh ditambah

Papan Semak

Butterfly

Diagonais

Beralih

Memory test has its own particularity, but it is the same as other types of ATE test chip in composition. Tiada lebih dari ujian kontak / kontinuiti (buka / pendek), ujian parameter DC, ujian masa AC, ujian fungsi digital dan ujian isyarat campuran.