多層基板の高密度配線技術の進歩により,従来の電解銅箔の使用が可能になった, 製造にはもはや適していない 高精度PCB パターン回路. この場合は, a new generation of copper foil-low profile (LP) or ultra-low profile (VLP) electrolytic copper foil has appeared one after another. Low-profile copper foil was successfully developed in the early 1990s (1992-1994), almost the same period in the United States) and Japan.
一般に、元の箔は電気メッキによって作られ、使用される電流密度は非常に高いので、元の箔の微結晶は非常に粗い、粗い柱状結晶を示す。スライスの交差断層の「稜線」は大きな起伏を有する。LP銅箔の結晶化は非常に微細である(2×1,000 m/m以下)。
結晶粒, 柱状の結晶を含まない, ラメラ結晶, そして、尾根は平らです. 表面粗さは低い. VLP copper foil is actually measured and the average roughness (R.) is 0.55μm (generally copper foil is 1.40μm). The maximum roughness (Rm?x) is 5.04μm (normal copper foil is 12.50μm). 様々な銅箔特性の比較のために表5 - 1 - 8を見てください.
通常の銅シリンダの一般的な性能を確保することに加えて、VLPおよびLP銅箔も、以下の特性を有する。
VLP及びLP銅箔の初期析出は一定の距離を保った結晶層である。結晶は垂直に接続されず積み重ねられているが、少し凹面で凸面の平坦なシートを形成する。この結晶構造は、金属結晶粒間の摺動を防止することができ、外部条件の影響による変形に耐える比較的大きな力を有する。このため,一般的な電解銅箔よりも銅箔の引張強度と伸び(法線状態,高温状態)が良好である。
2. LP銅箔は、通常の銅箔より粗面に滑らかで、より繊細です. 銅箔と基板との間の界面で, there will be no residual copper powder (copper powder transfer phenomenon) after etching, これは、表面抵抗及び層間抵抗を改善する PCBの特徴, そして、誘電性能の信頼性を改善する.
高い熱安定性を有し、薄い基板上の多重積層により銅を再結晶しない。
パターン回路のエッチング時間は、通常の電解銅箔よりも少ない。サイドエロージョン現象を減らす。エッチング後の白斑は減少する。細い線の生産に適しています。
5 . LP銅箔は硬度が高く、多層基板のドリル性を向上させる。またレーザ加工に適している。
(6)多層配線板をプレス成形した後のLP銅箔面は比較的平坦であり、細線配線の製造に適している。
7. LP銅箔の厚さは均一である, 信号伝送遅延は10 %後に小さい PCBを作る, 特性インピーダンスはよく制御される, そして、線と層の間にノイズがない.
低プロファイル銅箔は、一般的な電解銅箔と微細な構造、例えば、粒度、分布、結晶方位、分布とは非常に異なっている。低プロファイル銅箔製造技術は、従来の一般的な電解銅箔製造において、電解質式、添加剤、電気めっき条件等に基づいており、大幅な改善と技術的進歩がある。