チップテストPCB

IC試験装置（自動試験装置）を呼びます。PCB ATEで使われる ATTチップテスト PCB. 一般に, 多数のATEテスト関数が一緒に集められる, そして、ATEは半導体チップの機能性をテストするためにコンピュータによって制御される, ソフトウェアとハードウェアの組み合わせを含む.

これは半導体の設計と製造のプロセスから始まる。

半導体製品は3つの工業プロセスを経なければならない。

すべてのチップ製品は2つの重要なテストノードを必要とします：

チッププロービング（CP）：ATEはこの段階でプローブステージと呼ばれる。

最終試験(短報)

チップはパッケージング後にテストされ、異なるチップタイプは異なるテスト方法および要件を有する。

チップタイプ：

アナログ：シミュレーションは、ゆっくりと話すことができる概念です。要するに、物理的な世界を知覚するインターフェースです。信号特性に関しては、アナログ信号は連続である。

デジタルチップ：マイクロプロセッサのようなデータ情報を送信するためのデジタル信号の使用。信号特性に関しては離散的である。下記の図に示すように。

混合信号チップ：当然2種類の信号があり、様々な機能が統合されている。DSPとSoCチップのように。

メモリ/高速バス・チップ：この種のチップのテスト・プロジェクトは、比較的複雑で、それ自身の製品特性に関する特別なテスト要件を持ちます。

チップをテストするシステムは何ですか？

テスター、DIB /プローブカード、ハンドラ、テストソフトウェア（異なる言語やモジュールを開発するための機械の開発に応じてモジュールがあります）

ウエハ探査

プローブはウエハ上の回路に接続されている

どのように、テストシステムは一般的に働きますか？

まず、テストマシンは、テストプログラムの要件に従って信号のセットを生成する

パターンはテスト対象のチップに入力され、チップは入力値とそれ自身の関数に従って出力値をATEマシンに送信する。機械は、予めプログラムされたテスト規格に従って出力値をチップと比較する。

それが要件に会うならば、それは通りますそうでなければ失敗する。もちろん、標準のための許容値があります、さもなければ、失敗杭、そのような厳しいパス率、設計技師は狂っていると推定されます。しかし、この違いの範囲では、製品の等級にBinningテストを行うことができます。

最後に、テストプログラムは、異なる電圧、電流およびタイミングを変えて、それからデバッグおよびキャラクタリゼーションによって、チップを試験する。

メモリICを例として、試験項目は一般にDC−ACパラメータ試験＋機能試験

DCパラメータテストは、信号ピンのオープン/ショート、VCCピンのオープン/ショート、スタンバイおよびICC電流と動作中のリークテストが含まれています。

ACパラメータテストは主にTACAC（カラムアクセス時間）テストから来ます

タイミングテストのために：セットアップ時間、ホールド時間、伝搬遅延とタイミング較正

試験機の共通の適用範囲は以下の通りである。

メモリIC

T 55 xxシリーズ

T 53 XXシリーズ

マグナムシリーズ

クレデンス・カルロス

Vシリーズ

Vシリーズ

Verigy V 93000 HSMシリーズ

キングタイガー

デジタル、混合信号またはSoCチップ

タイガーシリーズ

ウルトラ・フレックス

Teradyne J 750シリーズ

触媒触媒シリーズ

クレデンスサファイア

デュオ・シリーズ

Dシリーズ

クレデンスSCシリーズ

シュルンベルガーEXA 2 x 00シリーズ

VERIGY V 93000 SOCシリーズ

アジレント94000シリーズ

LTXフュージョンシリーズ

アドバンテージT 77 xxシリーズ

アドバンテストT 2000シリーズ

T 65 xx / T 67 xxシリーズ

LCDドライバ

横河TS 67 XXシリーズ

T 63 XXシリーズ

スピアC 3320

RFチップ

クレデンスASLシリーズ

LTXフュージョンCXシリーズ

アジレント84000シリーズ

新型ST 7611

RoOS計器7100 A

次に、機能テストセクションを見てみましょう

リードサイクル

Wrtieサイクル

高速ページモード/江戸モードチェック

マーチ・コラム

この基本的に、特殊機能テスト項目を追加することができます

チェックボード

バタフライ

対角線

移動逆転

メモリテストには独自性がある, しかし、それは他のタイプの ATTチップテスト 構成において. 接点以上 / 連続試験 (オーペン / ショート), 直流パラメータテスト, ACタイミングテスト, ディジタル関数テストと混合信号試験.