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Confine-scansione della tecnologia ICT

Nell'80-90% dei produttori di circuiti stampati, i tester ICT richiedono almeno un punto di prova per ogni nodo del circuito. Tuttavia, man mano che aumenta l'integrazione dei dispositivi, le funzioni stanno diventando più forti, il pacchetto sta diventando sempre più piccolo, il numero di componenti di elaborazione SMT aumenta, l'uso di schede multistrato e l'aumento della densità dei componenti della scheda PCBA, è necessario mettere una sonda ad ogni nodo Diventa molto difficile. Al fine di aumentare i punti di prova, il costo di produzione è aumentato; Allo stesso tempo, diventa difficile sviluppare una libreria di test di dispositivi potenti e il ciclo di sviluppo è prolungato. A tal fine, la Joint Test Organization (JTAG) ha promulgato lo standard di prova IEEE1149.1.

IEEE1149.1 definisce diverse caratteristiche importanti di un dispositivo di scansione. In primo luogo, i quattro (cinque) pin che compongono la porta di accesso test (TAP) sono definiti: TDI, TDO, TCK, TMS, (TRST). La selezione del modo di prova (TMS) viene utilizzata per caricare informazioni sul controllo; in secondo luogo, il controller TAP è definito Diverse modalità di prova differenti sono supportate, principalmente test esterni (EXTEST), test interno (INTEST) e test di esecuzione (RUNTEST); Infine, viene proposto il linguaggio di scansione al contorno (Boundary Scan Description Language) e il linguaggio BSDL descrive informazioni importanti sui dispositivi di scansione. Definisce i pin come tipi di input, output e bidirezionali, e definisce la modalità TAP e il set di istruzioni.

Ogni pin di un dispositivo con scansione al contorno è collegato a un'unità di un registro di spostamento seriale (SSR), chiamata unità di scansione. Le unità di scansione sono collegate insieme per formare una catena di registro a turni, che viene utilizzata per controllare e rilevare i cavi dei dispositivi. piede. I suoi quattro perni specifici sono utilizzati per completare il compito di prova.

Collegare le catene di scansione di più dispositivi di scansione attraverso i loro TAP per formare una catena di registri di confine continua. Aggiungendo un segnale TAP alla testa della catena è possibile controllare e rilevare tutti i pin dei dispositivi collegati alla catena. Questo tipo di contatto virtuale sostituisce il contatto fisico del dispositivo del letto dell'ago ad ogni pin del dispositivo e l'accesso virtuale sostituisce l'accesso fisico effettivo, rimuovendo una grande quantità di pad di prova che occupano lo spazio della scheda PCB e riducendo il costo di produzione del PCB e del dispositivo.

Come strategia di test, quando si progetta il PCB per la testabilità, un software speciale può essere utilizzato per analizzare i punti del circuito e i dispositivi con funzioni di scansione per determinare come posizionare efficacemente un numero limitato di punti di prova senza ridurre la copertura del test. Il modo più economico per ridurre i punti di prova e i perni di prova.

La tecnologia Boundary Scan risolve la difficoltà di non essere in grado di aumentare i punti di prova. Ancora più importante, fornisce un metodo semplice e veloce per generare modelli di test. Utilizzando strumenti software, i file BSDL possono essere convertiti in modelli di test, come Teradyne's Victory e GenRad's Basic Scan and Scan Path Finder. Risolvi la difficoltà di scrivere librerie di test complesse.

La porta di accesso TAP può anche essere utilizzata per implementare la programmazione online (Programma In-System o Programma On Board) come CPLD, FPGA e Flash Memroy.

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