Data PCB - Komposisi modul ujian dalam talian untuk papan PCB dua sisi

1. Circuit online testing technology
1) Online testing principle: The basic principle of online testing is that the tester provides input excitation for the chip under test on the printed circuit boards, dan pada masa yang sama secara automatik mengumpulkan dan rekod balas output dan nilai keadaan cip yang sedang diuji di bawah kawalan komputer. Semua nilai keadaan direkam dibandingkan dengan jadual kebenaran keadaan piawai untuk menilai keadaan ralat objek yang diuji.
2) Post-drive test technology: Post-drive test technology is mainly used for online testing of digital circuits. Its essence is to sink or pull out a large transient current at the input stage of the device under test (the output stage of the front-stage driver chip), memaksa potensi menjadi lebih tinggi atau lebih rendah sesuai dengan yang diperlukan, supaya menggunakan ketenangan ujian pada peranti yang sedang diuji secara online. Tujuan. Untuk memastikan ujian fungsi peranti di papan, perlu memaksa aras logik peranti untuk dipandu, dan setiap pemandu pin mesti mampu tenggelam atau sumber semasa yang cukup. According to the post-drive safety standard recommended by the international protection standard document (00-53/1), arus pemacu pengujian direka untuk 240mA, dan masa ujian dalam 200 ms. Melalui eksperimen, peranti yang sedang diuji secara dasarnya boleh diasingkan dengan baik, dan keselamatan peranti yang sedang diuji juga dijamin.

2. Composition of the tester
1) Hardware module: The tester consists of a portable computer, platform ujian cip tunggal dan perisian analisis dan pemprosesan ujian. Di antara mereka, platform ujian-cip tunggal menyelesaikan pemilihan data objek diukur di bawah kawalan komputer. Some functions and descriptions are as follows:
The microkawalanler circuit mainly completes data acquisition, control, pemprosesan perintah, dan pertukaran data dengan komputer. Dalam rancangan pengujian, Mikro komputer siri MCS-51 8031 cip tunggal digunakan, 2764 digunakan sebagai ROM pengembangan, dan 6264 digunakan sebagai RAM pengembangan. Sirkuit cip penyahkodan 74LS138. Untuk komunikasi berantai dengan komputer, MCl488 dan MC1489 digunakan untuk menukar antara aras RS-232C dan aras TTL. Frekuensi jam sistem mikrokomputer cip tunggal memilih oscilator kristal 6MHz, the communication baud rate selects 2400, komputer satu-cip mengadopsi mod kerja 3 untuk melanjutkan komunikasi berantai. Pemasa T1 ditetapkan ke mod 2. Tetapkan SMOD=1, constant masa F3H. Pemacu bas mengembangkan bas mikrokomputer cip tunggal untuk meningkatkan kemampuan pemandunya, dan memilih pemacu baris 74LS244 dan 74LS245.

Sirkuit kawalan pemacu terutamanya menyelesaikan kawalan ambang ujian TTL dan CMOS dalam proses ujian, and selects 4-fold SPST (single pole single throw) DG211 analog switch. Kawalan suis selesai dengan sirkuit penyahkodan dan kunci 74LS373. To ensure that the DG211 is in normally open (OFF) state when powered on, a pull-up resistor (10kΩ) is added to the control line. Sirkuit pemacu ujian melaksanakan isyarat input ujian pada cip yang sedang diuji, dan menggunakan mikro-relay untuk mengawal isyarat input. isyarat ujian dijana oleh penimbal data 74ACT244. Untuk memastikan bahawa semasa input memenuhi keperluan desain, sambungan selari 4 arah digunakan. Untuk mencegah kerosakan pada peranti, rangkaian LC ditambah untuk penimbal semasa tinggi, dan sirkuit perlindungan dioda dirancang. Sirkuit pemilihan data membaca balas output cip yang sedang diuji, dan menggunakan komparator tekanan dua LM393 untuk mengawal isyarat output. Ia mempunyai penggunaan tenaga rendah, ketepatan perbandingan tinggi, dan sesuai dengan logik TTL. Output LM393 disambung dengan kunci data 74LS373, yang dikawal oleh pengendali mikro untuk dibaca dalam data perbandingan.

Tekanan-dipandu D/Sirkuit menyempurnakan output tekanan langkah dalam proses ujian VI. Adop selari D 8-bit/Penukar MC1408. The chip power supply voltage is +5V and -12V. Tengah rujukan disediakan oleh pengatur tengah semasa konstan TL431. Output memilih output bipolar, yang disempurnakan oleh penyembah dua tahap LM348. Pemilihan penukaran semasa A/Sirkuit D melaksanakan pembelian data semasa titik ujian. Dalam sirkuit, resistensi muatan dan sirkuit amplifikasi berbeza LM343 digunakan untuk mengikut tenaga titik ujian, dan nilai semasa titik ujian diubah menjadi tekanan yang A/Sirkuit penukaran D boleh mengendalikan. Pilih jenis perbandingan 8-bit berturut-turut AD7574 kelajuan tinggi A/D conversion circuit. Masa penukaran adalah 15μS, and it is powered by a single +5V supply. Tengah rujukan memilih VREF=-8V. Julat tensi input ialah 0~++|VREF|. A/Penukaran D boleh dimulakan dengan menghasilkan denyut negatif pada hujung RD cip kawalan program.

2) Software module: The tester is controlled by the portable main control computer through the serial port, platform ujian cip tunggal menyelesaikan kawalan kegembiraan, penemuan data dan kerja lain, dan semua proses analisis data dan kawalan arahan selesai oleh komputer utama yang boleh dibawa. Seluruh set perisian ujian terdiri dari perisian kawalan utama, perisian komunikasi data, perisian ujian luar talian, perisian ujian fungsi online, perisian ujian status online, Perisian ujian karakteristik VI, perisian ujian tenaga nod, manual elektronik, pengembangan ujian software, perisian ujian diri sistem, dll. Modul utama dikomponen.

3. Main functions of the tester
The tester adopts the circuit online test technology, yang boleh digunakan untuk menguji dan menganalisis kesalahan umum dari pelbagai cip sirkuit integrasi skala kecil dan tengah secara talian atau luar talian, dan menguji V/I karakteristik peranti analog dan digital. Prinsip asas ujian fungsi cip digital adalah untuk mengesan dan rekod input/keadaan output cip, dan membandingkan keadaan rekod dengan jadual kebenaran keadaan piawai untuk menilai sama ada fungsi cip yang diuji betul. Digital chip state test Each digital device on the circuit board has three state characteristics after power-on: the logic state of each pin (power, tanah, resistensi tinggi, isyarat, dll.), hubungan antara pin, input Hubungan logik antara output. Apabila peranti gagal, karakteristik keadaannya biasanya berubah. Penguji boleh mengekstrak ciri-ciri keadaan setiap peranti IC pada papan sirkuit yang baik, simpan dalam pangkalan data komputer, dan membandingkannya dengan papan sirkuit cacat yang sama, untuk mencari lokasi ralat dengan tepat. Analisi Ujian Karakteristik VI Fungsi ujian ini berdasarkan teknologi analisis karakteristik analog dan boleh digunakan untuk ujian analog, digital, peranti-tujuan khusus, peranti boleh program, dan peranti skala besar dan skala ultra besar. Penguji secara automatik mengekstrak lengkung karakteristik titik diukur melalui sond ujian atau klip ujian, papar pada skrin komputer, dan menyimpannya dalam komputer. Dalam diagnosis kesilapan istimewa, bandingkan lengkung VI diukur dengan lengkung piawai yang disimpan dahulu, dan kemudian mencari kesalahan. Ujian tensi nodal Sejak objek ujian pengujian tidak hanya mengandungi peranti sirkuit digital, tetapi juga sejumlah besar peranti sirkuit analog, untuk meningkatkan lebih lanjut skop aplikasi pengujian, teknologi ujian tegangan nod diterima dalam penguji. Dengan melaksanakan tekanan kerja pada objek diukur, komputer membaca nilai balas tegangan nod ujian, dan menetapkan pangkalan data maklumat ujian piawai bagi operator untuk menganalisis dan menilai lokasi ralat. Selain fungsi utama di atas, penguji fungsi lain juga mempunyai fungsi ujian bantuan seperti manual elektronik, test development, dan memeriksa diri sistem Papan PCB.