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Boundary Scan pour les technologies TIC

Dans 80 à 90% des fabricants de cartes, les testeurs TIC exigent au moins un point de test par nœud de circuit. Cependant, avec l'amélioration de l'intégration des dispositifs, de plus en plus de fonctionnalités, de moins en moins d'encapsulations, l'augmentation du nombre de composants de traitement SMT, l'utilisation de cartes multicouches, et l'augmentation de la densité des composants des cartes PCBA, il est nécessaire de placer une sonde par noeud, ce qui devient très difficile. Pour augmenter les points de test, les coûts de fabrication sont augmentés; Dans le même temps, il devient difficile de développer des bibliothèques de test pour des appareils puissants et les cycles de développement sont prolongés. À cette fin, la joint Testing Organization (JTAG) a publié la norme de test ieee1149.1.

Ieee1149.1 définit plusieurs caractéristiques importantes d'un périphérique de numérisation. Tout d'abord, les quatre (cinq) broches qui composent le test access port (TAP) sont définies: TDI, tdo, TCK, TMS (trst). Sélection du mode de test (TMS) pour le chargement des informations de contrôle; Deuxièmement, le Contrôleur Tap est défini. Plusieurs modes de test différents sont pris en charge, principalement les tests externes (extest), les tests internes (intest) et les tests opérationnels (runtest); Enfin, le Boundary Scan Description Language est proposé, et le langage BSDL décrit des informations importantes sur le périphérique de numérisation. Il définit les broches comme des types d'entrée, de sortie et bidirectionnels, et définit le mode TAP et le jeu d'instructions.

Chaque broche du dispositif à balayage de frontière est reliée à une cellule du registre à décalage série (SSR), dite cellule de balayage. Les cellules de balayage sont reliées entre elles pour former une chaîne de registres à décalage pour la commande et la détection des fils du dispositif. Les pieds Ses quatre broches spécifiques sont utilisées pour effectuer des tâches de test.

Une chaîne de balayage reliant plusieurs dispositifs de balayage par Tap, formant une chaîne continue de registres limites. L'ajout d'un signal Tap en tête de chaîne permet de contrôler et de détecter toutes les broches des appareils connectés à la chaîne. Ce contact virtuel remplace le contact physique de la pince de la machine à aiguilleter sur chaque broche de l'appareil, l'accès virtuel remplace l'accès physique réel, élimine les plots de test qui occupent beaucoup d'espace sur la carte PCB et réduit les coûts de fabrication de la carte PCB et de la pince.

En tant que stratégie de test, lors de la conception d'un PCB testable, un logiciel spécial peut être utilisé pour analyser les points de circuit et les périphériques dotés de fonctions de balayage afin de déterminer comment placer efficacement un nombre limité de points de test sans réduire la couverture de test. Le moyen le plus économique de réduire les points de test et les broches de test.

La technologie Boundary Scan résout la difficulté de ne pas augmenter les points de test. Plus important encore, il fournit un moyen simple et rapide de générer des modèles de test. Les fichiers BSDL peuvent être convertis en mode test à l'aide d'outils logiciels tels que teradyneás Victory et genradás Basic Scan and Scan path Finder. Résoudre les difficultés d'écriture de bibliothèques de test complexes.

Le port d'accès Tap peut également être utilisé pour implémenter des programmes en ligne (programmes intégrés ou sur carte) tels que CPLD, FPGA et flash.

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