Tecnología PCBA - ¿¿ cómo probar componentes electrónicos en una placa de circuito?

La placa de circuito es una parte indispensable de los equipos electrónicos modernos, y la calidad y el Estado de sus componentes afectan directamente el efecto de trabajo y la estabilidad de la placa de circuito. Por lo tanto, es particularmente importante detectar la calidad y el Estado de los componentes de la placa de circuito.

1. detección de Resistencia

La resistencia es un componente electrónico común cuya función principal es proporcionar resistencia a circuitos como limitación de corriente, División de tensión, filtrado y regulación de tensión. Cuanto más cerca esté el valor de resistencia de la resistencia al valor nominal, mejor será su calidad. Por lo tanto, en el diseño y fabricación de circuitos, es necesario detectar resistencias.

1) método de puente de corriente continua

El método de puente de corriente continua es un método común de detección de resistencias. utiliza un circuito llamado puente eléctrico para medir el valor de resistencia de la resistencia ajustando el valor de resistencia en el circuito del puente eléctrico, de modo que la diferencia de potencial eléctrico en ambos extremos del puente eléctrico es cero. El método de puente de corriente continua tiene una alta precisión de detección de la resistencia y es adecuado para resistencias con pequeños valores de resistencia y altos requisitos de precisión.

2) método del Multímetro

El método de multímetro es un método simple y fácil de usar para detectar resistencias, solo se necesita usar un multímetro para medir directamente la resistencia de las resistencias. Este método es simple y factible, y es adecuado para la detección de resistencia en circuitos generales, pero la precisión no es tan buena como el método de puente de corriente continua.

3) método de detección láser

El método de detección láser es un método de detección de resistencia de alta precisión y alta velocidad, que utiliza un interferómetro láser para medir la longitud y la Sección de la resistencia y calcular su valor de resistencia. Este método es de alta precisión y adecuado para la detección rápida de un gran número de resistencias.

2. detección de condensadores

El capacitor es un dispositivo que almacena cargas eléctricas y su función principal es proporcionar funciones de filtrado, acoplamiento y aislamiento en el circuito. En el diseño y fabricación de circuitos, los condensadores deben ser probados para garantizar que sus condensadores y tensiones tolerantes cumplan con los requisitos.

1) métodos de detección de puentes

El método de detección de puentes eléctricos es un método común de detección de condensadores. utiliza un circuito llamado puente eléctrico capacitivo para medir la capacidad de los condensadores ajustando el valor de la capacidad en el circuito del puente eléctrico para que la diferencia de potencial eléctrico en ambos extremos del puente eléctrico sea cero. Este método es adecuado para la detección de condensadores con pequeños valores de condensadores y altos requisitos de precisión.

2) método del osciloscopio

El método de alcance es un método de detección de condensadores intuitivo y fácil de usar, que utiliza un alcance para mostrar la forma de onda durante el proceso de carga y descarga de condensadores, midiendo así el valor de los condensadores. Este método es adecuado para la detección de condensadores con gran capacidad y bajos requisitos de precisión.

3. prueba de diodos

Los diodos son un componente electrónico común cuya función principal es limitar la corriente eléctrica en un circuito en una dirección para circuitos como la rectificación, amplificación y protección. En el diseño y fabricación de circuitos, es necesario detectar los diodos para garantizar que sus conexiones positivas y inversas y su conductividad eléctrica cumplan con los requisitos.

1) método del Multímetro

El método del multímetro es un método simple y fácil de detección de diodos, que solo necesita usar el multímetro para medir directamente el voltaje positivo y negativo y la corriente eléctrica del semiconductor. Este método es adecuado para la detección de diodos en circuitos generales, pero no puede detectar propiedades especiales de los diodos, como el tiempo de respuesta y el ruido.

2) método de resistencia dinámica

El método de resistencia dinámica es un método común de detección de diodos, que mide el valor de resistencia dinámica de los diodos a tensión positiva aplicando un cierto voltaje positivo y corriente continua para determinar su conductividad y calidad. Este método es adecuado para la detección rápida de un gran número de diodos, pero no puede detectar el rendimiento de voltaje inverso y corriente de fuga inversa.

3) métodos de prueba de frío y calor

El método de prueba de frío y calor es un método integral de detección de diodos basado en pruebas de rendimiento eléctrico a temperatura constante para determinar el rendimiento de los diodos, como voltaje positivo y inverso, corriente de fuga inversa, corriente de conducción y tiempo de respuesta. Este método es adecuado para la prueba de rendimiento integral de grandes cantidades de diodos, pero requiere equipos de prueba especiales y entornos.

4. detección de Transistor

El Transistor es un componente electrónico importante cuya función principal es amplificar y controlar la corriente eléctrica en el circuito.

1) método de prueba de parámetros estáticos

El método de prueba de parámetros estáticos es un método común de detección de transistor. El principio es medir los parámetros estáticos del Transistor aplicando un cierto voltaje y corriente, como el voltaje de salida, la corriente de salida y la corriente de entrada, para determinar su rendimiento de amplificación y control. Este método es adecuado para la prueba de rendimiento integral de pequeños lotes de transistor, pero no puede detectar propiedades especiales como el tiempo de respuesta y el ruido.

2) métodos de prueba de las características dinámicas

El método de prueba de características dinámicas es un método integral de detección de transistor, cuyo principio es medir las características dinámicas del transistor, como la respuesta de frecuencia, la frecuencia de corte y el ruido, aplicando una cierta señal de ca y un sesgo de corriente continua para determinar su rendimiento de amplificación y control. Este método es adecuado para la prueba de rendimiento integral de Transistor a gran escala, pero requiere equipos de prueba especiales y entornos.

Diferentes componentes requieren diferentes métodos y tecnologías de prueba para garantizar que su calidad y rendimiento cumplan con los requisitos. En el trabajo práctico, es necesario seleccionar métodos y equipos de prueba adecuados de acuerdo con los requisitos específicos de diseño y fabricación de circuitos para garantizar la calidad y fiabilidad de los componentes electrónicos.