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Tener ESte CEnSt1..te MejO1. Pertenecer
Aprobación OSí.diencia Tener Algunos DSí.posiciEnes (DFT Design Para ExamenabilIty), Este Preparación Y Aplicación CosA Pertenecer Producción Examen Sí, claro. Sí. Gran Tierra DSí.minución. EsAs DSí.posiciones Sí. Una vez Desarrollado Fin Este Año. Pertenecer CurAsí que..., Si Nuevo Producción Tecnología Y Componentes Tecnología Sí. Adopción, Ellos DeSí. Sí. Ampliación Y Adaptación Iluminar. Como Este Tamaño Pertenecer Electrónico ProducAs Convertirse en Más pequeño Y Más pequeño, II EEspecialmente Notable Problema Sí. ApSí.ce: one Sí. Ese Allá ... Todoí. Sí. Menos Y Menos Circumfluence Nodo Ese Sí, claro. Sí. ContacA; Este Además Sí. MéAdos Como Ensayo en línea. Aplicación Sí. RestrNavegación inercial y orientaciónido. En el interior Orden A ReAsí que...lver EsAs Problema, ConParame MedidComo Sí, claro. Sí. Toma. on Este Circumfluence DSí.eño, Nuevo Examen MéAdos Y En el interiornovador Adaptador Resolver Sí, claro. Sí. Adopción. Este Así que...lución A Este Segundo Problema Y En el interiorvolucrar Hacer Este Examen SSí.tema Ese Sí. Original AGComoAsumbrarse a Como an En el interiordependiente Proceso Asumir Adicional TSí.Como. EsAs TSí.as Incluir Programación Memoria Componente Aprobación Examen SSí.tema or Aplicación Integrado Componentes AuAevaluación (Built-in Yo mSí.mo Examen, BSí.t, Incorporado self-Examen). Transferencia EsAs Escalón A Este Examen Sistema, Amplio, It También Creación Más SuplemenA Valor. In Orden A Hacer efectivo Estos Medidas Sin problemas, Allá ... Todoí. DeSí. Sí. ConParame Considerar in Este Productos Investigación Y Desarrollo Fase.
1. Qué es Examenabilidad
El signSiicado de la Examenabilidad puede entenderse como que un ingeniero de pruebas puede utilizar el método más simple para detectar las características de un Componentese para ver si cumple la funcionalidad deseada. En resumen:
¿Qué tan simple es probar que el Productoso cumple con las eEspecíficoaciones técnicas?
¿Qué tan rápido se escriSí. un program a de prueba?
¿En qué medida son exhaustivos los fallos del producto?
¿Qué tan simple es acceder a un punto de prueba?
In Orden to Realización Vale Examenabilidad, Motorizado Y Relacionado con la electricidad Diseño Disposiciones DeSí. Sí. Considerado. Pertenecer Curso, to Realización Este El mejor Testabilidad, Tú. Necesidad to Pago a Algunos Precio, Pero Para Este Todo Proceso, It Sí. a Serie Pertenecer Beneficios, so It is an Importante RequisItos previos Para Este ExItoso Producción Pertenecer Este product.
2. Por qué desarrollar tecnologías amigables con las pruebas
En el pasado, si un producto no podía ser proDesagradableo en un punto de prueba anterior, el problema simplemente se trasladó al punto de prueba. Si los defectos del producto no pueden detectarse en las pruebas de producción, la identSiicación y el diagnóstico de los defectos se transferirán simplemente a las pruebas funcionales y del sistema.
En cambio, hoy en día la gente trata de detectar defectos lo antes posible. Los Sí.neficios no sólo son de bajo Gastoso, sino que, lo que es más Importantee, los productos de hoy son tan complejos que algunos defectos de fabricación pueden no ser detectados en absoluto en las pruebas funcionales. Por ejemplo, algunos Componenteses que requieren sPertenecertwSí. pre - instalado o programación tienen este problema. (como flash o ISP: dispositivo programable en el sistema). La programación de estos Componenteses deSí. planificarse en la fase de desarrollo y el sistema de ensayo deSí. dominar la programación.
It Costo Algunos Dinero to Examen FVelocidadrnal Circumfluence Diseño, Sin embargo,, it Costo Más to Examen Difícil Circumfluence Diseños. Ensayo En sí mismo Sí. a Gastos, Y Este Gastos Pertenecer Ensayo Aumento as Este Número Pertenecer Examen Nivel Aumento; A partir de... En línea Ensayo to Funcional Ensayo Y Sistema Ensayo, Ensayo Costo Sí. Obtener Superior Y Superior. Si Tú. Skip one Pertenecer Este Examen, Este Gastos Will Sí. Incluso si Más grYe. Este Todos Reglas is Ese Este Coeficiente Pertenecer Crecimiento Para Cada uno Adicional Cantidad Pertenecer Examen Gastos is 10. Tiempo. Aprobación Este Prueba amigable Circumfluence Diseño, Negligencia Sí, claro. Sí. Establecer Temprano, so Ese Este Dinero Gastos on Este Prueba amigable Circumfluence Diseño Sí, claro. Sí. Rápidamente Compensación.
3. Cómo afecta la documentación a la comprobabilidad
Sólo aprovechYo plenamente los datos completos en el desarrollo de Componenteses es posible escribir un program a de prueba que pueda detectar completamente fallos. En muchos casos, se necesita una estrecha cooperación entre el Departamento de desarrollo y el Departamento de pruebas. La documentación tiene un impacto indiscutible en la comprensión de las funciones de los Componenteses por parte de los ingenieros de pruebas y en la Paramulación de estrategias de prueba.
Para evitar los problemas causados por la falta de documentación y la falta de comprensión de las funciones de los Componenteses, los fabriSí, claro.tes de sistemas de ensayo pueden confiar en herramientas de sPertenecertwSí. que generan automáticamente patrones de prueba basados en principios aleatorios, o en comparaciones no vectoriales. El método no vectorial sólo puede ser considerado como uno. Una medida de conveniencia.
La documentación completa antes de la prueba incluye Listaas de piezas, datos de diseño de Circumfluenceos (principalmente datos Diseño asistido por ordenador) e información detallada sobre las funciones de los Componenteses de servicio (como hojas de datos). Sólo con toda la información disponible es posible compilar vectores de prueba, definir patrones de fallo de componentes o hacer algunos ajustes previos.
También son Importantees algunos datos mecánicos, como los necesarios para comprobar que las piezas están bien soldadas y posicionadas. Por último, para componentes programables como Flash, PLD, FPGA, etc., si no fueron programados en la última instalación, deSí.n ser programados en el sistema de prueba y deSí.n conocer los datos de programación correspondientes. Los datos de programación del dispositivo Flash deSí.n ser completos. Si el chip flash contiene datos de 16 Mbit, deSí. ser capaz de utilizar 16 Mbit, lo que evita malentendidos y conflictos de direcciones. Esto puede ocurrir, por ejemplo, si utiliza memoria de 4 Mbit para proporcionar sólo 300 Kbit de datos a un componente. Por supuesto, los datos deSí.n estar preparados para formatos estándar populSí.s, como Hex de Intel o la estructura de registro de Motorola. La Quizás.oría de los sistemas de prueba pueden interpretar estos formatos siempre y cuYo puedan programar componentes flash o ISP. Gran parte de la información mencionada anteriormente también es necesaria para la fabricación de componentes. Por supuesto, deSí. haSí.r una clara distinción entre manufacturabilidad y Examenabilidad, ya que se trata de un concepto completamente diferente que constituye una premisa diferente.
4. Condiciones de Contactoo mecánico con buena capacidad de ensayo
Si no se tienen en cuenta las reglas básicas de la mecánica, incluso si el Circumfluenceo tiene una buena capacidad de prueba eléctrica, puede ser difícil de probar. Muchos factores pueden limitar la Examenabilidad eléctrica. Si el punto de prueba no es suficiente o demasiado pequeño, el adaptador de la cama de la sonda tendrá dificultades para llegar a cada nodo del Circumfluenceo. Si el error de posición y el error de tamaño del punto de ensayo son demasiado grYes, se producirá una mala repetibilidad del ensayo. Al utilizar el adaptador de la cama de la sonda, debe tenerse en cuenta una serie de recomendaciones sobre el tamaño y la ubicación de los orificios de sujeción y los puntos de ensayo.
5. Requisitos eléctricos para la mejor Examenabilidad
Las condiciones previas eléctricas son tan importantes para una buena Examenabilidad como las condiciones de Contactoo mecánico, y ambas son Indispensables. El Circumfluenceo de la puerta no se puede probar. La razón puede ser que el Estación aérea de entrada de arranque no puede ser contactado a través del punto de prueba, o que el Estación aérea de entrada de arranque está encapsulado y no puede ser accedido desde el exterior. En principio, ninguno de los dos casos es bueno. Hacer imposible la prueba. Al diseñar el Circumfluenceo, se debe tener en cuenta que todos los componentes probados por el método de ensayo en línea deben tener un meSí, claro.ismo para que cada componente pueda aislarse eléctricamente. Este meSí, claro.ismo se puede lograr prohibiendo los Estación aéreaes de entrada que Controlan los Estación aéreaes de salida de los componentes en un Estado estático de alta Ohm.
Aunque casi todos los sistemas de prueba pueden cambiar el Estado de un nodo a cualquier Estado de una manera impulsada hacia atrás, es mejor preparar la entrada prohibida para el nodo en cuestión. En primer lugar, el nodo está en un Estado ohmico alto. A continuación, añada el nivel correspondiente "suave".
Del mismo modo, el generador de latidos siempre se desconecta directamente de la parte posterior del Oscilador a través de un cable de arranque, un Circumfluenceo de puerta o un puente de inserción. El terminal de entrada de arranque no debe estar conectado directamente al Circumfluenceo, sino a través de una resistencia de 100 ohmios. Cada componente debe tener su propio pin de arranque, reinicio o control. Debe evitarse que muchos terminales de entrada de arranque de componentes compartan resistencias y se conecten al Circumfluenceo. Esta regla también se aplica a los componentes asic, que también deben tener un PIN que lleve la salida a un Estado ohmico alto. Si el componente se puede reiniciar cuYo la tensión de funcionamiento está encendida, el reinicio de arranque del probador también es útil. En este caso, el componente puede simplemente ponerse en el Estado especificado antes del ensayo.
Los pines de plomo de los componentes no utilizados también deben ser accesibles, ya que la falta de cortocircuito en estos lugSí.s también puede causar fallos de los componentes. Además, los circuitos de puerta no utilizados se utilizan generalmente para futuras mejoras de diseño y pueden cambiar a circuitos. Por lo tanto, es importante probarlo desde el principio para asegurar la fiabilidad de sus piezas.
6. Mejora de la Examenabilidad
Sugerencias para mejorar la Examenabilidad con adaptadores de cama de sonda
Matar bien
Configuración Diagonal
La precisión de posicionamiento es de ± 0,05 mm (± 2 ML).
La precisión del diámetro es de ± 0076 / - 0 mm (+ 3 / - 0 ML).
La precisión de posicionamiento relativa al punto de ensayo es de ± 0,05 mm (± 2 ML).
Al menos 3 mm del borde del componente
Contacto sin penetración
Punto de ensayo
Tan cuadrado como sea posible
El diámetro del punto de ensayo será de al menos 0,88 mm (35 mils)
La precisión dimensional del punto de medición es de ± 0076 mm (± 3 ML).
La precisión del intervalo entre los puntos de ensayo es de ± 0076 mm (± 3 ML).
El intervalo entre los puntos de ensayo será de 2,5 mm en la medida de lo posible.
Estaño, soldadura directa en la cara final
Al menos 3 mm del borde del componente
Todos los puntos de prueba pueden estar en la parte posterior del tablero plug - in
Los puntos de ensayo se distribuirán uniformemente en el tablero del enchufe.
Al menos un punto de prueba por nodo (100% Sí, claro.ales)
Circuitos de puerta de repuesto o no utilizados con puntos de ensayo
Múltiples puntos de prueba externos de la fuente de alimentación se distribuyen en diferentes posiciones
Identificación del componente
Texto del logotipo en la misma dirección
Identificación clara del Patrónlo, versión, número de serie y Código de barras
El nombre del componente debe ser claramente visible y, en la medida de lo posible, debe marcarse directamente al lado del componente.
7. Sobre memoria flash y otros componentes programables
El tiempo de programación de la memoria flash a veces es muy largo (Sí.ta 1 minuto para una gran memoria o almacenamiento). Por lo tanto, no se permite la conducción inversa de otros componentes en este momento, ya que de lo contrario puede dañar la memoria flash. Para evitar esto, todos los componentes de la línea de control conectada al bus de direcciones deben estar en un Estado ohmico alto. Del mismo modo, el bus de datos debe ser capaz de ser aislado para asegurarse de que la memoria flash está vacía y puede ser programado para el siguiente paso.
Los componentes programables en el sistema (ISP) tienen algunos requisitos, como los productos de altera, Xilinx y latUso, y otros requisitos especiales. Además de los requisitos mecánicos y eléctricos de prueba, debe garantizarse la posibilidad de programar y validar los datos. Para los componentes altera y Xilinx, se utiliza el formato vectorial Serial (svf), que recientemente se ha convertido en un estándar de la industria. Muchos sistemas de prueba pueden programar estos componentes y probar el generador de señales usYo datos de entrada en formato vectorial serie (svf). Estos componentes se programan a través de la clave de eEEEEEsSí, claro.eoeoeoeoeoeo de límites (Border EsSí, claro.eo kette JTAG) y una serie de formatos de datos. Al recoger los datos de programación, es importante tener en cuenta todas las cadenas de componentes en el circuito, en lugar de simplemente restaurar los datos a los componentes a programar.
Durante la programación, el generador automático de señales de prueba considera toda la cadena de componentes y conecta otros componentes al Modeloo de Aprobaciónpass. En su lugar, lattice requiere datos en formato jedec y programación paralela a través de los terminales de entrada y salida habituales. Después de la programación, los datos también se utilizan para comprobar la funcionalidad del componente. Los datos proporcionados por el Departamento de desarrollo deben ser lo más fáciles posible de aplicar directamente al sistema de ensayo o simplemente transformarlos.
8. Qué debe No.arse en el eEEsSí, claro.eoeoeo de límites (JTAG)
Los componentes basados en mallas finas de componentes complejos proporcionan sólo unos pocos puntos de prueba accesibles para los ingenieros de pruebas. Todavía es posible mejorar la Examenabilidad. Por lo tanto, el eEsSí, claro.eoeo de límites y la técnica de auto - prueba integrada se pueden utilizar para acortar el tiempo de terminación de la prueba y mejorar el efecto de la prueba.
Para los ingenieros de desarrollo e ingeniería de pruebas, las estrategias de prueba basadas en el eEEEscaneoeoeoeo de límites y la integración de la tecnología de auto - prueba sin duda aumentarán los Gastosos. Los ingenieros de desarrollo deben utilizar componentes de barrido de límites (IEEE - 1149.1 - estándar) en el circuito y tratar de hacer accesibles los pines de prueba específicos correspondientes (por ejemplo, entrada de datos de prueba TDI, salida de datos de prueba tdo, frecuencia de reloj de prueba) - TCK y selección del modo de prueba - TMS y GGF. Reiniciar la prueba). El ingeniero de pruebas desarrolla el Modeloo de escaneo de límites (bsdl) para el componente. En este punto, debe saber qué capacidades de escaneo de límites e instrucciones soportan los componentes relacionados. Las pruebas de barrido de límites pueden diagnosticar cortocircuitos y circuitos abiertos Sí.ta que los cables estén nivelados. Además, si el ingeniero de desarrollo lo especifica, puede activar la prueba automática del componente a través del ComYo de escaneo de límites "runbist". Especialmente cuYo hay muchos componentes asic y otros componentes complejos en el circuito, estos componentes no tienen el Modeloo de prueba habitual. El Gastoso del desarrollo del modelo de prueba se puede reducir en gran medida mediante el componente de escaneo de límites.
El tiempo y el costo de cada componente se reducen de manera diferente. Para circuitos con CI, si se requiere un 100% de descubrimiento, se necesitan unos 400.000 vectores de prueba. UtilizYo el escaneo de límites, el número de vectores de prueba puede reducirse a cientos con la misma tasa de detección de fallos. Por lo tanto, el método de escaneo de límites tiene ventajas especiales cuYo no hay ningún modelo de prueba o los nodos del Circuito de contacto están restringidos. El uso del escaneo de límites depende del aumento de los costos de desarrollo, utilización y fabricación. El escaneo de límites debe cumplir los requisitos de tiempo para detectar fallos, tiempo de prueba, tiempo de entrada en el mercado y costo del adaptador.
