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Escaneo de fronteras de la tecnología TIC
Entre el 80% y el 90% de los fabricantes de placas de circuito, los probadores TIC requieren al menos un punto de prueba por nodo de circuito. Sin embargo, a medida que aumenta la integración del dispositivo, las funciones son cada vez más fuertes, los encapsulamientos son cada vez más pequeños, el número de elementos de procesamiento SMT aumenta, el uso de placas multicapa y la densidad de los elementos de placas pcba aumenta, es necesario colocar una sonda en cada nodo. esto se vuelve muy difícil. Con el fin de aumentar los puntos de prueba, se aumentan los costos de fabricación; Al mismo tiempo, el desarrollo de bibliotecas de pruebas de equipos potentes se ha vuelto difícil y el ciclo de desarrollo se ha prolongado. Con este fin, la organización conjunta de pruebas (jtag) promulgó el estándar de prueba ieee1149.1.
El ieee1149.1 define varias características importantes de los dispositivos de escaneo. En primer lugar, se definen los cuatro (cinco) Pines que componen el puerto de acceso a la prueba (tap): tdi, tdo, tck, tms, (trst). La selección del modo de prueba (tms) se utiliza para cargar la información de control; En segundo lugar, se define el controlador tap. se admiten varios modos de prueba diferentes, principalmente pruebas externas (test), pruebas internas (test) y pruebas operativas (runtest); Finalmente, se propone el lenguaje de descripción de escaneo de límites y se describe la información importante del dispositivo de escaneo en el lenguaje bsdl. Define el PIN como tipo de entrada, salida y bidireccional, y define el modo TAP y el conjunto de instrucciones.
Cada pin del dispositivo con escaneo de límites está conectado a una unidad del registro de cambio serie (ssr), llamada unidad de escaneo. Las unidades de escaneo están conectadas para formar una cadena de registro de cambio para controlar y detectar los cables del dispositivo. Pies Sus cuatro Pines específicos se utilizan para completar la tarea de prueba.
A través de la tap, se conectan las cadenas de escaneo de varios dispositivos de escaneo para formar una cadena de registro de límites continua. Añadir una señal TAP a la cabeza de la cadena puede controlar y detectar todos los pines del dispositivo conectado a la cadena. Este contacto virtual reemplaza el contacto físico entre la pinza de cama de aguja y cada pin del dispositivo, y el acceso virtual reemplaza el acceso físico real, eliminando un gran número de almohadillas de prueba que ocupan espacio en la placa de PCB y reduciendo los costos de fabricación de PCB y la pinza.
Como estrategia de prueba, al diseñar un PCB testable, se puede utilizar un software especial para analizar puntos de circuito y dispositivos con función de escaneo para determinar cómo colocar eficazmente un número limitado de puntos de prueba sin reducir la cobertura de la prueba. La forma más económica de reducir los puntos de prueba y los pines de prueba.
La tecnología de escaneo de límites resuelve la dificultad de no aumentar los puntos de prueba. Más importante aún, proporciona una forma simple y rápida de generar el modo de prueba. Con las herramientas de software, los archivos bsdl se pueden convertir en modos de prueba, como Victory de terradyne y el Finder de ruta de escaneo básico y escaneo de genrad. Resolver la dificultad de escribir una biblioteca de pruebas compleja.
El puerto de acceso TAP también se puede utilizar para realizar programas en línea (programas dentro del sistema o programas en el tablero), como pld, FPGAs y memoria Flash.
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