Tecnología de sustrato IC - Sistema de ensayo IC 5G - TS - 960e - 5g

Sistema de ensayo Circuito integrado 5G - TS - 960e - 5g

TS - 960e - 5g

Antecedentes familiares

Con 5G, Estación base, Célula pequeña, Los teléfonos móviles y los equipos industriales requerirán normas Circuito integrado Equipo. La integración de estos componentes en la cadena de suministro significa: Fabricante de circuitos integrados need automated test systems for 5g chips. The automatic test system (ATE) will need to test radios, Beamformer, Amplificador Y otros componentes que funcionan en la banda de 28 GHz, 39 GHz and below 6 GHz; This requires the ate to include vector network analyzer (VNA) and digital I / Equipo o. En el equipo de ensayo 5G, Observamos que cada vez más empresas de ate están entrando en el mercado de 5G. Marvin test solutions cooperates with Rohde & Schwarz to develop 5g Circuito integrado Sistema Ate, También participará en esta competencia.

Introducción del producto

1. Hardware part

The ts-960e-5g mmwave test system provides test performance up to 50 GHz. El sistema integra el nivel de laboratorio RF performance directly into the mmwave device under test (DUT) for multi site production test or device characterization of mmwave devices. Además, Mts también ofrece un conjunto completo de pruebas digitales y paramétricas y SPI / Control de la función de soporte de la interfaz i2c / Monitorización del equipo sometido a ensayo.

Componentes principales (como se muestra en la figura 2):

Rohde & Schwarz znbt40 24 channel, 40 GHz VNA

Marvin test gx7205 PXI chassis provides a dedicated 32 channel, 100 / 125 MHz DIO card and a gx3104 source measurement unit (SMU) for each DUT

Rohde & Schwarz osp320, added 4 1 * 6 switch for intermodulation test

Marvin test head has product interfaces, Interfaz que incluye el procesador de dispositivos de cuatro puntos Seiko Epson 8040

Estructura interna del TS - 960e - 5g

Ensayo de circuito abierto, cortocircuito y DC / AC

La versión básica de ate incluye 64 números dinámicos I / Canal o, 64 número estático I / Canal o, Fuente de alimentación programable por el usuario, Autocontrol del sistema y accesorios. Número dinámico I / O - gx5296, Función pmu por Pin, Puede realizar pruebas de circuito abierto, cortocircuito y DC rápidamente. La velocidad de datos de 125 MHz facilita la realización de pruebas de ca. Combinado con el software gtdio 6xeasy, Puede escribir e importar archivos de esquema para verificar las pruebas funcionales básicas. Número estático I / O - gx5733 can well realize switching function and environment variable control;

The upgraded ate can be expanded to 256 dynamic digital channels and 128 static digital channels, Los recursos del sistema se enriquecen en gran medida, lo que es beneficioso para las pruebas de producción a gran escala..

Subsistema digital TS - 960e - 5g

2) RF function test part

The znbt40 of Rohde & Schwarz used in ATE is a multi port vector network analyzer with an operating frequency range of 9 kHz to 40 GHz and can provide up to 24 channels. El instrumento puede probar múltiples DUT o medir simultáneamente un DUT, Hasta 24 canales. Incluso con un gran número de Puertos, Puede realizar un escaneo de 201 puntos en un corto período de medición de 3 a ños.5 milisegundos.

Znbt40 tiene un amplio rango dinámico de hasta 135 DB, Entrada de alto nivel de potencia de salida y capacidad de procesamiento de alta potencia. El instrumento se utiliza principalmente para desarrollar y producir componentes activos y pasivos de múltiples puertos., Por ejemplo, GPS, Red inalámbrica de área local, Bluetooth y módulo frontal de teléfonos móviles multibanda, Y se pueden determinar todos los parámetros 576 s del DUT de 24 canales.

El analizador de red no tiene función de visualización, Esto ahorra espacio - muy razonable para productos de automatización. Control a través de una pantalla externa, Ratón y teclado o pantalla táctil externa.

Subsistema de ensayo de radiofrecuencia

Interfaz del procesador

Aplicaciones de prueba de producción que requieren integración con procesadores automáticos, El TS - 960e - 5g está equipado con un manipulador intest, Proporciona una ubicación precisa de la cabeza de prueba e interfaz con detectores automáticos y procesadores de dispositivos. The device interface board (DIB) / La interfaz del receptor TS - 960e - 5g es compatible con casi cualquier procesador de dispositivo.

TS - 960e - 5g Border panel

Epson NS - 8040

Para la prueba de producción por lotes, el sistema está equipado con Epson NS - 8040. El producto tiene las características de alta estabilidad, fácil funcionamiento y mantenimiento, y puede probar varios chips de sellado y transferencia.

2. Parte de software

El entorno de ejecución de software en ate es ateasy, Puede completar fácilmente la preparación del programa de prueba y la gestión de la ejecución; Al mismo tiempo, Está equipado con iceasy Ensayo de semiconductores Paquetes de software; Configuración de dioeasy: herramienta de conversión e importación de esquemas; Gtdio 6xeasy: herramienta de Edición de patrones; VNA 5G, Vsa Test Suite: puede realizar análisis de espectro, Visualización y estadísticas cronometradas, Análisis de modulación digital, Etc..

Ateasy soporta múltiples APIs de Windows, Incluyendo LabVIEW, CVI, Microsoft y Borland C / C + +, Microsoft Visual Basic, Bertrand Delphi.

Componente de ensayo

Resumen

TS - 960e - 5g equipo automático de ensayo de chips 5G, Tiene velocidad de ensayo de producción en masa y capacidad de ensayo a nivel de laboratorio; Soporte para 40 GHz - 53 GHz Ensayo de chips de alta frecuenciaN. Se pueden realizar pruebas multipunto Ft o pruebas de obleas. Ideal para equipos de ondas milimétricas / Ensayo y caracterización de módulos, Pruebas de productos y productos clave, Análisis automático de fallos.