Para garantizar la calidad de la producción a gran escala de SMT y reducir los costos, las pruebas en línea son esenciales. Para garantizar el buen desarrollo de los trabajos de prueba, el diseño de los puntos de prueba y los agujeros de prueba (agujeros de conexión eléctrica para la prueba de rendimiento eléctrico de los componentes de PCB y pcb) debe considerarse durante el diseño de los pcb.
(1) diseño de prueba de fiabilidad de contacto. En principio, los puntos de prueba deben colocarse en la misma superficie y distribuirse uniformemente. El diámetro de la almohadilla en el punto de prueba es de 09mm a 1,0 mm, que coincide con los pines de prueba relevantes. El Centro del punto de prueba debe caer sobre la cuadrícula y no debe diseñarse a 5 mm del borde de la placa, y la distancia central entre los puntos de prueba adyacentes no debe ser inferior a 1,46 mm.
No se diseñarán otros componentes entre los puntos de prueba y la distancia entre los puntos de prueba y las almohadillas de los componentes no será inferior a 1 mm para evitar cortocircuitos entre los componentes o los puntos de prueba, y se tendrá en cuenta que los puntos de prueba no pueden aplicar ninguna capa aislante.
En principio, el agujero de prueba se puede reemplazar por un agujero de proceso, pero al probar la placa única del rompecabezas, el agujero de prueba todavía debe diseñarse en la placa inferior.
(2) diseño de la prueba de fiabilidad eléctrica, todos los nodos eléctricos deben proporcionar puntos de prueba, es decir, los puntos de prueba deben ser capaces de cubrir todas las señales de E / s, puesta a tierra de la fuente de alimentación y retorno, y cada IC debe tener puntos de prueba de alimentación y puesta a tierra. Si el dispositivo tiene múltiples fuentes de alimentación y pines de tierra, se deben agregar puntos de prueba por separado. La fuente de alimentación y el suelo del bloque integrado deben colocarse a menos de 2,54 mm. el cable de control IC no debe conectarse directamente a la fuente de alimentación, al suelo o a la resistencia pública. Se deben agregar circuitos integrados a gran escala y dispositivos asic con dispositivos de escaneo de límites como puntos de prueba auxiliares para realizar funciones de escaneo de límites, como relojes, modos, terminales de entrada / salida en serie de datos y terminales de reinicio, probando así la lógica funcional interna del propio dispositivo. Requisitos
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