Chip ate prueba PCB

Llamamos al equipo de chip de prueba IC ate (equipo de prueba automático), y los PCB utilizados en ate se llaman PCB de chip de prueba ate. Por lo general, una gran cantidad de funciones de prueba ate se reúnen, y el ordenador controla ate para probar las funciones de los chips semiconductores, incluida la combinación de software y hardware.

Esto debe comenzar con el proceso de diseño y fabricación de semiconductores.

Los productos semiconductores deben pasar por tres procesos industriales: diseño de circuitos integrados, fabricación de obleas y encapsulamiento.

Todos los productos de chips de prueba requieren dos nodos de prueba clave:

Detección de chips (cp): ate en esta etapa se llama fase de detección

Prueba final (conocida como ft)

Los chips se prueban después del encapsulamiento, y diferentes tipos de chips tienen diferentes métodos y requisitos de prueba.

Tipo de chip:

Simulación: la simulación es un concepto del que puedes hablar lentamente. En resumen, es la interfaz para percibir el mundo físico. En lo que respecta a las características de la señal, la señal analógica es continua.

Chip digital: utilizar señales digitales para transmitir información de datos, como microprocesadores. En lo que respecta a las características de la señal, es discreta. Como se muestra en la siguiente imagen

Chip de señal híbrido: naturalmente hay dos señales e integra varias funciones. Al igual que los chips DSP y soc.

Chips de memoria / bus de alta velocidad: los proyectos de prueba de este tipo de chips son relativamente más complejos y tienen requisitos de prueba especiales para sus propias características de producto.

¿¿ cuál es el sistema probado por el chip?

Probadores, tarjetas Dib / sonda, procesadores, software de prueba (diferentes lenguajes y módulos para ingenieros según el tipo de máquina)

Prueba de chip

Chip de prueba

¿¿ cómo funciona generalmente el sistema de prueba?

En primer lugar, la máquina de prueba de chips genera un conjunto de señales de acuerdo con los requisitos del programa de prueba, generalmente muy simple. introducir el modo en el chip a probar, el chip transmite el valor de salida a la máquina ate en función de la entrada y sus propias funciones. La máquina compara los valores de salida con el chip de acuerdo con los estándares de prueba preprogramados.

Si se cumplen los requisitos, se aprueba; De lo contrario, fracasará. Por supuesto, los estándares tienen valores de tolerancia, de lo contrario las pilas fallidas, una tasa de aprobación tan estricta, los ingenieros de diseño estiman que es una locura. Sin embargo, dentro de esta diferencia, puede continuar con las pruebas de embalaje para clasificar el producto.

Finalmente, el programa de prueba prueba prueba nuestro chip cambiando diferentes voltaje, corriente y cronología, y luego depura y caracteriza.

Tomando como ejemplo el IC de memoria, el proyecto de prueba es generalmente la prueba de parámetros de ca de corriente continua más la prueba funcional.

La prueba de parámetros de corriente continua incluye la prueba de apertura / cortocircuito del pin de señal, la prueba de apertura y cortocircuito del Pin vcc, la prueba de repuesto y la prueba de corriente y fuga ICC en funcionamiento.

Las pruebas de parámetros de CA provienen principalmente de las pruebas de tcac (tiempo de acceso a la columna).

Para pruebas de tiempo: configuración del tiempo, tiempo de retención, retraso en la propagación y calibración del tiempo

El alcance común de aplicación de la máquina de prueba es el siguiente:

Memoria IC

Serie advantest t55xx

Serie advantest t53xx

Serie de resonadores magnéticos nexttest

Kreden Carlos

Serie verigy v4000

Serie verigy v5000

Serie verigy v93000 HSM

Golden Tiger kt2 / kt3

Chips digitales, híbridos o Soc

Colección de tigres terradyne

Colección terradyne flexible / ultra flexible

Serie terradyne j750

Serie de catalizadores terradyne

Crence Zafiro

Serie de cuartos / dobles de credibilidad

Serie D de zafiro crescence

Serie crescence SC

Serie Schlumberger exa 2x00

Serie verigy v93000 Soc

Serie Agilent 94000

Serie de fusión ltx

Serie avanzada t77xx

Serie advantest t2000

Serie advantest t65xx / t67xx

Controlador LCD

Serie hengchuan ts67xx

Serie advantest t63xx

Spea c3320

Chip de radiofrecuencia

Serie crescence Asl - 3000

Serie ltx Fusion CX

Serie Agilent 84000

Avanzado t7611

Ross Instrument 7100a

A continuación, veamos la Sección de pruebas funcionales.

Ciclo de lectura

Ciclo wrtie

Comprobación del modo de página rápida / modo Edo

Tren de marzo / viaje de marzo

Sobre esta base, se pueden agregar proyectos de prueba de funciones especiales.

Tablero de ajedrez

Mariposa

Encefalitis diagnóstica

Inversión de movimiento

Las pruebas de memoria tienen sus particularidades, pero en composición son las mismas que otros tipos de chips de prueba ate. No exceder la prueba de contacto / continuidad (circuito abierto / cortocircuito), la prueba de parámetros de corriente continua, la prueba de cronología de ca, la prueba de función digital y la prueba de señal mixta.