Технология PCB - Улучшить правила проектирования схем для улучшения тестируемости

С постоянным совершенствованием миниатюризации компоненты и технология проводки также претерпели значительные изменения, например, миниатюрная ИС с исключительным использованием в оболочке BGA и уменьшение расстояния между проводниками до 0,5 мм. Это всего лишь два примера. конструкции проводки электронных элементов все больше шансов на успешное проведение испытаний в будущем производственном процессе. Ниже приведены некоторые важные правила и практические навыки.

By complying with certain regulations (Тестовое проектирование DFT), the preparation and implementation costs of production tests can be greatly reduced. Эти положения разрабатывались на протяжении многих лет. Of course, Если внедрять новые производственные технологии и агрегаты, их необходимо соответственно расширять и корректировать. As the size of electronic products becomes smaller and smaller, возникли два вопроса, заслуживающих особого внимания: во - первых, все меньше и меньше узлов цепи, с которой можно связаться; другой способ - проверка цепей. Application is restricted. чтобы решить эти проблемы, corresponding measures can be taken on the circuit layout, можно использовать новые методы тестирования и инновационные решения адаптеров. The solution to the second problem also involves making the test system that was originally used as an independent process undertake additional tasks. These tasks include programming memory components through test systems or implementing integrated component self-tests (Built-in Self Test, BIST, built-in self-test). Transferring these steps to the test system, общий, it still creates more added value. в целях успешного осуществления этих мер,, there must be corresponding considerations in the product research and development stage.

1. What is testability

значение проверяемости можно понимать как: проверяющий инженер может использовать простую методику для определения характеристик того или иного компонента, чтобы убедиться, что он удовлетворяет ожидаемым функциям. Короче говоря:

способ проверки соответствия продукции техническим требованиям?

как быстро я могу подготовить программу тестирования?

в какой степени неисправность продукции считается полной?

как легко получить доступ к точке тестирования?

In order to achieve good testability, mechanical and electrical design regulations must be considered. Of course, для достижения оптимальной проверяемости, you need to pay a certain price, Но весь процесс, it has a series of benefits, Поэтому это является важной предпосылкой успешного производства продукции.

почему необходимо разрабатывать и опробовать дружественные технологии

прошлое, if a product could not be tested at the previous test point, затем вопрос был просто перенесен в тестовую точку. если дефект не обнаружен в ходе испытаний производства, выявление и диагностика дефектов будут просто перенесены в функциональные и системные испытания.

Вместо этого сегодня предпринимаются попытки как можно скорее обнаружить недостатки. его преимущества не только низкая стоимость, но и, что более важно, сегодняшняя продукция очень сложна, некоторые производственные дефекты, возможно, не могут быть обнаружены в функциональных тестов. например, некоторые компоненты, которые требуют предварительно установленного программного обеспечения или программирования, имеют такие проблемы. (например, Flash или ISP: программируемое устройство в системе). Эти компоненты должны быть запрограммированы на стадии разработки, а тестовая система должна быть освоена.

It costs some money to test friendly circuit designs, Однако, it costs more to test difficult circuit designs. сам тест стоит, стоимость тестирования увеличивается по мере повышения уровня тестирования; от онлайн - тестов до функционального и системного тестирования, testing costs are getting higher and higher. если вы пропустите один из этих тестов, the cost will be even greater. Общее правило заключается в том, что стоимость каждого дополнительного теста увеличивается в 10 раз. Through the test-friendly circuit design, можно заранее обнаружить неисправность, so that the money spent on the test-friendly circuit design can be quickly compensated.

каким образом документация влияет на возможность тестирования

только в полной мере использовать полные данные разработки компонентов, it is possible to compile a test program that can fully discover the failure. во многих случаях, close cooperation between the development department and the testing department is necessary. документ имеет неоспоримое влияние на понимание инженером функции сборки и разработку стратегии тестирования.

во избежание проблем, связанных с отсутствием документации и недостаточным пониманием функций компонентов, производители тестовых систем могут полагаться на программное обеспечение, которое автоматически генерирует модели тестов в соответствии с принципами случайности или зависит от сравнения непровекторных величин. невекторный метод может считаться одним. какой - то улов.

полная документация перед испытанием включает перечень деталей, circuit design data (mainly CAD data) and detailed information about the functions of the service components (such as data sheets). только имея всю информацию, можно скомпилировать тестовый вектор, define component failure patterns or make certain pre-adjustments.

важное значение имеют также некоторые механические данные, такие, как данные, необходимые для проверки сварки деталей и их местоположения. Наконец, в случае программируемых компонентов, таких, как Flash, PLD, FPGA и т.д., которые не были запрограммированы на момент последней установки, они должны быть запрограммированы в тестовой системе и должны быть известны соответствующие данные программирования. данные, запрограммированные на устройства для молнии, должны быть целы и невредимы. Если микросхема Flash содержит данные 16мбит, то он должен иметь возможность использовать 16мбит, что позволит избежать недоразумений и конфликтов адресов. Это может произойти, например, в том случае, если данные о компонентах будут предоставляться только на основе памяти 4мбит. Разумеется, данные должны быть готовы к использованию в популярных стандартных форматах, таких как шестнадцатеричная система сбора данных или структура записей Motorola. Большинство тестовых систем, как только они могут программировать компоненты flash или ISP, могут интерпретировать эти форматы. Многие из упомянутых выше материалов, многие из которых также необходимы для изготовления компонентов. Разумеется, следует провести четкое различие между производительностью и проверяемостью, поскольку это совершенно другое понятие, которое представляет собой различные предпосылки.

4. Mechanical contact conditions with good testability

без учета основных правил механики, даже если электрическая цепь хорошо поддается испытанию в электрическом отношении, ее будет трудно проверить. многие факторы ограничивают электротестирование. Если испытательная точка не является достаточной или слишком маленькой, то адаптер цоколья зонда будет трудно добраться до каждого узла цепи. если ошибка в положении и размерах точки тестирования является слишком большой, возникает вопрос о том, что ошибка повторяемости теста. при использовании адаптера зонда следует принимать во внимание ряд предложений относительно размера и местонахождения зажимных отверстий и испытательной точки.

5. электрические предпосылки для оптимальной пробности

электрические предпосылки столь же важны для хорошей проверяемости и механического контакта, and both are indispensable. схема не может быть проверена. The reason may be that the start input terminal cannot be contacted through the test point, или загрузить терминал в пакете, который не может быть доступен извне. в принципе, the two conditions are both bad. сделать экзамен невозможным. When designing the circuit, Следует отметить, что все компоненты, испытанные путём испытания в режиме онлайн, должны иметь определенный механизм, чтобы каждая сборка могла проводить электроизоляцию. This mechanism can be realized by prohibiting the input terminal, Он может управлять выводом элемента в статическом высоком омическом состоянии.

хотя почти все системы тестирования могут быть преобразованы в любой режим с обратным приводом, желательно, чтобы вход был запрещен для соответствующего узла. Во - первых, поместите узлы в высокоомное состояние. затем "нежно" добавить соответствующий уровень.

так же, the beat generator is always disconnected directly from the back of the oscillator through the start lead, коммутационный мост. The start input terminal must not be directly connected to the circuit, но на цепь через сопротивление 100 ом. Each component should have its own start, вывод сброса или управления. It must be avoided that the start input terminals of many components share a resistor and are connected to the circuit. правила применяются также к компонентам ASIC, these components should also have a pin, через него выход может достигать высокого омического состояния. If the component can be reset when the operating voltage is turned on, Перезагрузить тестер также очень полезно. В таком случае, the component can simply be placed in a prescribed state before testing.

Следует также обеспечить легкий доступ к выводам неиспользованных частей, поскольку отсутствие короткого замыкания в этих местах может также привести к сбоям в работе компонентов. Кроме того, неиспользованные дверные цепи обычно используются для будущих усовершенствований конструкции и могут быть преобразованы в схемы. Поэтому важно также, чтобы они проверялись с самого начала для обеспечения надежности их работы.

повышение апробируемости

предложение о повышении испытательности при использовании адаптера гнезда зонда

нагнетание скважины

Diagonal configuration

точность позиционирования ±0,05 мм (2 мм)

точность диаметра ±0.076/-0mm (+3/-0mil)

точность позиционирования относительно точки теста составляет ± 0,05 мм (±2мил)

расстояние от края виджета не менее 3 мм

непроницаемый контакт

Test point

по мере возможности

диаметр контрольной точки не менее 0.88mm (35mil)

точность измеренных точек ±0076 мм (±3мил)

точность интервала между точками измерений ±0.076mm (±3mil)

расстояние между контрольными точками должно быть как можно более 2,5 мм

Tinned, сварка в торце

расстояние по кромке узла не менее 3 мм

все точки теста могут быть расположены на обратной стороне платы модуля

контрольная точка должна равномерно распределяться на панели модулей

Each node has at least one test point (100% channel)

запасная или неиспользуемая дверная схема имеет контрольную точку

The multiple external test points of the power supply are distributed in different positions

идентификация компонентов

знак в том же направлении

тип, версия, серийный номер и штрих - код

The name of the component should be clearly visible, и по мере возможности прямо пометить рядом с виджетом

Информация о Flash и других программируемых компонентах

The programming time of flash memory is sometimes very long (up to 1 minute for large memories or memory banks). поэтому, reverse drive of other components is not allowed at this time, В противном случае, вспышка может быть повреждена. In order to avoid this situation, все компоненты, подключенные к линии управления адресной шиной, должны находиться в состоянии высокой Ома. Similarly, шины данных должны быть в состоянии изоляции для обеспечения того, чтобы флэшка была пуста и могла быть запрограммирована на следующий шаг.

некоторые требования к программным компонентам системы (ПИУ), такие, как продукция компаний "Altera", "XilinX" и "Latuce", а также другие особые требования. В дополнение к механическим и электрическим условиям тестирования необходимо обеспечить возможность программирования и проверки данных. для компонентов Altera и Xilinx используется последовательный векторный формат (SVF последовательного векторного формата), который в последнее время практически стал отраслевым стандартом. Многие тестовые системы могут запрограммировать эти компоненты и использовать последовательный векторный формат (SVF) для проверки генераторов сигналов. Эти компоненты запрограммированы с помощью клавиш сканирования границ (Kette JTAG), а также программируются с использованием ряда форматов данных. при сборе данных по программированию важно учитывать все звенья цепи цепи, а не просто возвращать данные к программируемым элементам.

время программирования, the automatic test signal generator takes the entire component chain into consideration and connects other components to the bypass model. напротив, Lattice requires data in JEDEC format and is programmed in parallel through the usual input and output terminals. постпрограммирование, the data is also used to check component functions. данные, предоставляемые разработчиками, должны быть как можно более простыми, с тем чтобы их можно было непосредственно использовать в тестовых системах, можно также использовать простое преобразование приложений.

Вопросы, на которые следует обратить внимание при сканировании границ (JTAG)

модуль, основанный на тонкой сетке сложных компонентов, предоставляет только пилотным инженерам несколько доступных тестовых точек. В настоящее время существует возможность повышения степени тестирования. с этой целью можно было бы использовать методы сканирования границ и комплексной самоконтроля для сокращения времени завершения испытаний и повышения их эффективности.

для инженеров - разработчиков и инженеров - испытателей Стратегия тестирования, основанная на технологии сканирования границ и самотестирования, несомненно, увеличит расходы. Инженеры - разработчики должны использовать компоненты пограничной развертки (IEEE - 1149.1-Standard) в схемах и попытаться получить доступ к конкретным контрольным выводам (например, ввод тестовых данных TDI, вывод тестовых данных TDO, частота тестовых часов) - TCK и выбор тестовых режимов - TMS и ggf. проверка сброса ( инженер - испытатель разработал модель сканирования границ для компонентов (язык описания сканирования границ BSDL). при этом он должен знать, какие функции и инструкции по сканированию границ поддерживаются соответствующими компонентами. тест на сканирование границ позволяет диагностировать короткое замыкание и разомкнутый контур ниже уровня провода. Кроме того, если это указано инженером - разработчиком, можно Автоматически проверять компоненты, запускаемые командой "Runbist" для сканирования границ. особенно в тех случаях, когда в цепи имеется много ASIC и других сложных элементов, эти элементы не имеют стандартных тестовых моделей. стоимость разработки тестовой модели может быть значительно снижена за счет сканирования границ.

время и стоимость каждого компонента различны. для схемы с IC, если необходимо 100% открытия, потребуется около 400 000 тестовых векторов. через пограничное сканирование при том же коэффициенте обнаружения неисправностей количество тестовых векторов может быть сокращено до сотен. Таким образом, метод сканирования границ обладает особыми преимуществами в отсутствие тестовой модели или контактных узлов цепи. использование сканирования границ зависит от увеличения расходов на разработку, использование и производство. сканирование границ должно удовлетворять требованиям времени обнаружения неисправностей, времени проверки, времени выхода на рынок и стоимости адаптеров.