PCBA Teknoloji - Bir devre tahtasında elektronik komponentleri nasıl test edeceğiz?

Döngü tahtaları modern elektronik ekipmanların gereksiz bir parçasıdır, ve oluşan komponentlerin kalitesi ve durumu direkt devre tahtalarının çalışma etkisini ve stabilliğini etkiler. Bu yüzden devre tahtası komponentlerinin kalitesini ve durumunu tespit etmek özellikle önemlidir.

1. Saldırı tanımlaması

Resistorlar, şu and a sınırlama, voltaj bölümü, filtreleme ve voltaj düzenlemesi gibi devreler için dirençliği sağlamak için ortak bir elektronik komponenti. Saldırganın dirençli değeri nominal değere yaklaştığında, onun kalitesi daha iyi. Bu yüzden devre tasarımı ve üretimi içinde dirençleri bulmak gerekiyor.

1) DC köprü yöntemi

DC köprüsü metodu genellikle kullanılan bir direktör keşfetme metodu. Bu devreyi köprüsün iki tarafından sıfır köprüsün arasındaki potansiyel farklılığını düzenleyerek direktör değerini ölçülemek için bir devre kullanır. DC köprü yöntemi dirençleri keşfetmek için yüksek doğruluğu var ve küçük direnç değerleri ve yüksek doğruluk ihtiyaçlarıyla dirençler için uygun.

2) Multimeter method

Multimetre yöntemi, direkten direkten direkten direkten düzenlenmek için sadece bir multimetre kullanımına ihtiyacı olan direkten rezil değerini ölçülemek için basit ve kolay kullanılır. Bu yöntem basit ve olabilir, genel devreler tarafından dirençli keşfetmek için uygun, ama tam olarak DC köprü yöntemi kadar iyi değildir.

3) Laser keşfetme yöntemi

Laser keşfetme metodu, dirençlerin uzunluğunu ve karşısını ölçüp dirençli değerini hesaplamak için lazer interferometrini kullanan yüksek hızlı ve yüksek hızlı dirençli keşfetme metodu. Bu yöntem yüksek doğruluğu var ve büyük sayılar dirençlerin hızlı keşfetmesi için uygun.

2. Kapacitenin keşfetmesi

Kapasantör, yükleri depolayan bir aygıtıdır. Ana fonksiyonu bir devre içinde filtreleme, bağlantı ve izolasyon fonksiyonlarını sağlamak. Devre tasarımı ve üretimi içinde, kapasitelerin kapasitelerinin ve voltajlarının gerekçelerini yerine getirmesini sağlamak için teste edilmesi gerekiyor.

1) Köprü tanıma yöntemi

Köprü tanıma yöntemi genellikle kullanılan bir kapasitör tanıma yöntemidir. Köprü devrelerindeki kapasiteler değerini düzenleyerek iki köprünün sıfır tarafından potansiyel farklılığını sağlamak için kapasitör köprüsü denilen bir devre kullanır. Bu metod küçük kapasitet değerleri ve yüksek doğruluk ihtiyaçlarıyla kapasitör tanımlaması için uygun.

2) Oscilloscope metodu

Oscilloskop metodu, kapasitörün yükleme ve dağıtma sürecinde dalga formunu göstermek için oscilloskop kullanarak kullanılabilir ve kolay kullanılabilir kapasitör tanımlama metodu. Bu yöntem büyük kapasitet ve düşük doğruluk ihtiyaçlarıyla kapasitör keşfetmesi için uygun.

3. Diode testi

Diodeler, ana fonksiyonu bir devre tarafından kullanılan, düzeltme, genişleme ve koruma gibi devrelerde kullanılan bir elektronik komponenti. Dönüş tasarımı ve üretimi içinde diodileri keşfetmek gerekiyor. İlerleme ve dönüş bağlantılarının ve yönetim performansının gerekçelerini yerine getirmesini sağlamak için.

1) Multimeter method

Multimetre yöntemi, diodun pozitif ve negatif voltaj ve yönlendirme akışını doğrudan ölçülemek için sadece bir multimetre kullanımına ihtiyacı olan basit ve kolay bir diod tanımlama yöntemidir. Bu yöntem, genel devreler için diodi keşfedilmesi için uygun, fakat cevap zamanı ve sesi gibi diodilerin özel performansını keşfedemez.

2) Dinamik dirençlik yöntemi

Dinamik dirençlik yöntemi genellikle kullanılan bir diod tanımlama yöntemidir. Bu, ileri voltaj altında diodun dinamik dirençlik değerini ölçüyor. Bir ileri voltaj ve DC kullanarak, hareketini ve kalitesini belirlemek için. Bu yöntem, büyük miktarlarda diodi tespit etmek için hızlı uygun, fakat tersi voltaj ve tersi sızdırma akımı gibi performansını tespit edemez.

3) Soğuk ve sıcak testi metodları

Sıcak ve soğuk testi metodu, sürekli sıcaklık sıcaklığında elektrik performansı testlerine dayanarak diodilerin performansını belirlemek için, ön ve tersi voltaj gibi, tersi sıçrama sıcaklığı, hareket sırası ve cevap zamanı olarak dayanarak karşılaştırma metodu. Bu yöntem büyük bir grup diodi testi için uygun ama özel testi ekipmanları ve çevreyi gerekiyor.

4. Transistorların keşfetmesi

Transistorlar, devreler içindeki ana fonksiyonu genişletip kontrol etmek ve genişletilmek için önemli bir elektronik komponenti.

1) Statik parametre testi yöntemi

Statik parametre test metodu genelde kullanılan bir transistor keşfetme metodu. Onun prensipi, çıkış voltajı, çıkış akışı ve giriş akışını, belirli bir voltajı ve akışını uygulamak için transistor'un statik parametrelerini ölçülemektedir. Bu yöntem küçük grup trazistörlerin bütün performans testi için uygun, fakat cevap zamanı ve sesi gibi özel performansı tanımayamaz.

2) Dinamik karakteristik test metodu

Dinamik karakteristik testi yöntemi, frekans cevabını ölçülemek, kesilme frekansiyeti, sesi ve transistor'un diğer dinamik özelliklerini belirleyerek bir AC sinyali ve DC bias ını uygulamaktır. Bu yöntem büyük ölçekli transistorların büyük performans testi için uygun, fakat özellikle testi ekipmanları ve çevreyi gerekiyor.

Farklı komponentler, özelliklerinin ve performanslarının gerekçelerine uygun olmasını sağlamak için farklı testi metodları ve teknikleri gerekiyor. Pratik çalışmalarda, elektronik komponentlerin kalite ve güveniliğini sağlamak için özel devre tasarımı ve üretim gerekçelerine dayanan uygun teste metodlarını ve ekipmanları seçmek gerekir.