我n 我電腦斷層掃描 測試, 測試探針主要用於接觸 PCBA板, 可以檢測短路, 斷路和部件焊接等故障. 我t可以定量量測電阻, 電容, 電感, 晶體振盪器和其他設備, 對二極體進行功能測試, 電晶體, 光學耦合器, 變壓器, 繼電器, 運算放大器, 電源模組, 等., 對中小型集成電路進行功能測試, 如所有74系列, 記憶體類型, 通用驅動器類型, 交換類型和其他 我銫.
一些方法 我電腦斷層掃描 測試是;
1、模擬器件測試
使用運算放大器進行測試。 從“A”點來看,“虛擬土地”的概念是:
–µ我x=我ref
–Rx=Vs/V0*Rref
Vs和Rref分別為儀器的激勵信號源和計算電阻。 量測V0,然後計算Rx。 如果要量測的Rx是電容或電感,那麼Vs是交流信號源,Rx是阻抗形式,也可以獲得C或L。
2、病媒試驗
對於數位我C,使用向量(Vector)測試。 向量測試類似於真值表量測,其中類比輸入向量,量測輸出向量,並通過實際邏輯功能測試來判斷設備的質量。 例如:NAND測試
對於類比我C的測試,可以根據我C的實際功能激發電壓和電流,並可以量測相應的輸出作為功能塊測試。
3、非病媒檢測
隨著現代製造技術的發展和超大規模集成電路的使用,為設備編寫向量測試程式通常需要花費大量時間。 例如,80386測試程式需要一個熟練的程式師將近半年的時間。 SMT器件的大量應用使得器件引脚開路的故障現象更加突出。 為此,每家公司的非媒介檢測科技,Teradyne推出了MultiScan; GenRad引入了Xpress非向量測試技術。
資訊通信技術 測試在生產過程的後端. 的第一個過程 PCBA 測試可以檢測 PCBA板 生產過程及時, 這有助於改進工藝,提高生產效率.